11.
Sárkány, Zoltán ; Vass-Varnai, András ; Rencz, Márta
Analysis of concurrent failure mechanisms in IGBT structures during active power cycling tests
In: IEEE (szerk.) 2014 IEEE 16th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2014) pp. 650-654. Paper: 7028349 , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2846370 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 6 | Független: 5 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 5 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 5 | DOI jelölt: 5
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2846370] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 6, Független: 5, Függő: 1, Nem jelölt: 0
12.
Sarkany, Zoltán ; Vass-Varnai, András ; Rencz, Márta
Separation of failure modes in short cycle time power cycling experiments
In: Chris, Bailey; Marta, Rencz; Bernhard, Wunderle (szerk.) 20th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'14)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2014) Paper: 1021 , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2846311 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2846311] [Nyilvános]
13.
Zoltan, Sarkany ; Andras, Vass-Varnai ; Marta, Rencz
Comparison of different power cycling strategies for accelerated lifetime testing of power devices
In: Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC), 2014
(2014) pp. 1-5. Paper: 6962833 , 5 p.
DOI Scopus
Közlemény:2846271 Admin láttamozott Forrás Idéző Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 6 | Független: 6 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 5 | DOI jelölt: 6
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[2846271] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 6, Független: 6, Függő: 0, Nem jelölt: 0
14.
Balázs, Plesz ; András, Vass-Várnai
Characterization of solar cells by thermal transient testing
MICROELECTRONICS JOURNAL 45 : 12 pp. 1710-1715. , 6 p. (2014)
DOI WoS Scopus
Közlemény:2828102 Egyeztetett Forrás Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 5 | Független: 3 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 3
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2828102] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 5, Független: 3, Függő: 2, Nem jelölt: 0
15.
Andras, Vass-Varnai ; Zoltan, Sarkany ; Attila, Szel ; Marta, Rencz
Simulation Based Method to Eliminate the Effect of Electrical Transients from Thermal Transient Measurements
In: International Conference on Electronics Packaging, ICEP 2014
Toyama, Japán, New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2014) pp. 591-595. , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2699447 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 2 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2699447] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 2, Függő: 2, Nem jelölt: 0
16.
Zoltan, Sarkany ; Andras, Vass-Varnai ; Sandor, Laky ; Marta, Rencz
Thermal Transient Analysis of Semiconductor Device Degradation in Power Cycling Reliability Tests with Variable Control Strategies
In: Paul, Wesling; Kathe, Erickson (szerk.) Thirtieth Annual SEMICONDUCTOR THERMAL MEASUREMENT AND MANAGEMENT SYMPOSIUM
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2014) 259 p. pp. 236-241. , 6 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2699395 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 8 | Független: 8 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 8 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 8 | DOI jelölt: 8
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2699395] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 8, Független: 8, Függő: 0, Nem jelölt: 0
17.
Andras, Vass-Varnai ; Zoltan, Sarkany ; Barna, Csaba ; Sandor, Laky ; Marta, Rencz
A possible method to assess the accuracy of a TIM tester
In: International conference on Electronics Packaging, ICEP 2013
(2013) Paper: B11
Közlemény:2698364 Admin láttamozott Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény )
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[2698364] [Admin láttamozott]
18.
Sárkány, Zoltán ; Vass-Varnai, András ; Rencz, Márta
Investigation of die-attach degradation using power cycling tests
In: Ashok, Anand (szerk.) 2013 IEEE 15th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC 2013)
Zürich, Svájc : Trans Tech Publications (2013) pp. 780-784. Paper: 6745827 , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2696522 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 10 | Független: 10 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 8 | Scopus jelölt: 7 | WoS/Scopus jelölt: 9 | DOI jelölt: 8
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2696522] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 10, Független: 10, Függő: 0, Nem jelölt: 0
19.
Andras, Vass-Varnai ; Sandor, Laky ; Zoltan, Sarkany ; Csaba, Barna ; Marta, Rencz
Issues of finding a proper golden-reference sample for TIM tester calibration
In: Wesling, P; Erickson, K (szerk.) 29th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'13)
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE Press (2013) 288 p. pp. 200-205. Paper: 6526829 , 6 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2696519 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2696519] [Nyilvános]
20.
Zoltan, Sarkany ; Andras, Vass-Varnai ; Gusztav, Hantos ; Marta, Rencz
Failure prediction of IGBT modules based on power cycling tests
In: Raad, P E; Rencz, M; Wunderle, B; Poppe, A (szerk.) 19th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC 2013)
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2013) 389 p. pp. 270-273. , 4 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2696514 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 10 | Független: 10 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 10 | Scopus jelölt: 5 | WoS/Scopus jelölt: 10 | DOI jelölt: 10 (Nem nyilvános: 1)
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2696514] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 10, Független: 10, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2024-05-08 01:32