Proceedings of the 30th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'14)

Paul, Wesling [szerk.]; Kathe, Erickson [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos Konferenciakötet (Könyv)
Megjelent: IEEE, New York (NY), Amerikai Egyesült Államok, 259 p. 2014
Konferencia: Proceedings of the 30th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'14) 2014-03-09 [San Jose (CA), Amerikai Egyesült Államok]
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2021-06-17 22:01