1.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
The Use of Thermal Transient Testing
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 319-352. Paper: Chapter 7 , 34 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589490 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589490] [Nyilvános]
2.
Farkas, Gábor ✉ ; Poppe, András ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
Thermal Transient Measurements on Various Electronic Components
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 209-318. Paper: Chapter 6 , 110 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589441 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589441] [Nyilvános]
3.
Wong, Voon Hon ; Vass-Varnai, Andras ; Caruso, Antonio ; Cho, Young Joon ; Lee, Yong Seoung ; Lee, Kwon Hyung
Rapid Assessment of Semiconductor Thermal Quality
In: 2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
(2021) pp. 1-6. , 6 p.
DOI WoS Egyéb URL
Közlemény:32765962 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32765962] [Egyeztetett]
4.
Wong, Voon Hon ; Vass-Varnai, Andras ; Caruso, Antonio ; Hara, Tomoaki ; Hsu, Alvin ; Wang, Gang
Detection Of Die Attach Defects Through Rapid Thermal Transient Tests
In: 2021 International Conference on Electronics Packaging (ICEP)
(2021) pp. 117-118. , 2 p.
DOI WoS Egyéb URL
Közlemény:32765939 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 0 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32765939] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 0, Függő: 2, Nem jelölt: 0
5.
András, Poppe ; András, Vass-Várnai ; Zoltán, Sárkány ; Márta, Rencz ; Gusztáv, Hantos ; Gábor, Farkas
Suggestions for Extending the Scope of the Transient Dual Interface Method
In: Vadim, Tsoi; Lorenzo, Codecasa; Bernhard, Wunderle (szerk.) Proceedings of the 27th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'21 online)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2021) pp. 23-30. , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:32236544 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 4 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32236544] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 4, Függő: 0, Nem jelölt: 0
6.
Vass-Varnai, A. ; Cho, Y.J. ; Farkas, G. ; Rencz, M.
An Alternative Method to Accurately Determine the Thermal Resistance of SiC MOSFET Structures with Discrete Diodes
In: IPEC, - ECCE Asia; Sangyō, Ōyō Bumon; IEEE, Power Electronics Society; IEEE, Industry Applications Society (szerk.) 2018 INTERNATIONAL POWER ELECTRONICS CONFERENCE (IPEC-NIIGATA 2018 -ECCE ASIA)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2018) pp. 137-141. Paper: 8507995 , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:31322686 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 1 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[31322686] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 1, Függő: 1, Nem jelölt: 0
7.
Vass-Várnai, András
New Methods for the Investigation of Modern Electronics Packaging Materials Using Thermal Transient Measurements 92 p.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem, Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola, Kerecsen Istvánné Rencz Márta Disszertáció benyújtásának éve: 2017, Védés éve: 2017 Megjelenés/Fokozatszerzés éve: 2017
ODT védés Teljes dokumentum Handle
Közlemény:3412157 Hitelesített Forrás Idéző Disszertáció (PhD ) Tudományos
PhD (Disszertáció) | Tudományos[3412157] [Hitelesített]
8.
Fang, Yake ; Wang, Gang ; Xiaodan, Chen ; Wong, Voon Hon ; Xing, Fu ; Vass-Varnai, Andras
Detailed analysis of IC packages using thermal transient testing and CFD modelling for communication device applications
In: András, Poppe (szerk.) 2016 22nd International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'16)
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2016) 349 p. pp. 164-168. , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:3177301 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3177301] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
9.
Attila, Szel ; Zoltan, Sarkany ; Marton, Bein ; Robin, Bornoff ; Andras, Vass-Varnai ; Marta, Rencz
Lifetime estimation of power electronics modules considering the target application
In: Paul, Wesling (szerk.) Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15)
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2015) pp. 332-335. , 4 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2911949 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 3 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2911949] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 3, Függő: 0, Nem jelölt: 0
10.
Attila, Szel ; Zoltan, Sarkany ; Marton, Bein ; Robin, Bornoff ; Andras, Vass-Varnai ; Marta, Rencz
Mission profile driven component design for adjusting product lifetime on system level
In: IEEE (szerk.) Proceedings of International Conference on Electronics Packaging
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2015) pp. 385-389. , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2911926 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2911926] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2024-04-26 16:29