mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15)

Paul, Wesling [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), New York, Amerikai Egyesült Államok 2015

Konferencia: 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, SEMI-THERM 2015 2015-03-15 [San Jose (CA), Amerikai Egyesült Államok]

Azonosítók

MTMT: 2810723
ISBN: 9781479986002

Fejezetek

Maggioni FLT et al. 3D-convolution based fast transient thermal model for 3D integrated circuits: Methodology and applications. (2015) Megjelent: Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15) pp. 107-112
Torzewicz Tomasz et al. Retrieving Heat Transfer Coefficient Temperature Dependence from Measurement Data. (2015) Megjelent: Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15) pp. 185-188
András Poppe et al. Application of the Transient Dual Interface Method in Test Based Modeling of Heat-sinks Aimed at Socketable LED Modules. (2015) Megjelent: Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15) pp. 261-266
Attila Szel et al. Lifetime estimation of power electronics modules considering the target application. (2015) Megjelent: Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15) pp. 332-335

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2026-01-14 18:57

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás