1.
Ress, Sandor ✉ ; Farkas, Gabor ; Rencz, Marta
Analytical Prediction of the Thermal Behavior of Semiconductor Power Devices from Room-Temperature I–V Measurements
ENERGIES 17 : 12 Paper: 2931 , 23 p. (2024)
DOI WoS Scopus
Közlemény:35133146 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[35133146] [Egyeztetett]
2.
Ress, S. ✉ ; Sarkany, Z. ; Rencz, M. ; Farkas, G.
Thermal Transient Tests with Programmed Powering on Wide Bandgap Power Devices of Non-Monotonous and Time-Variant Characteristics
In: Poppe, András (szerk.) Proceedings of the 29th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'23)
Budapest, Magyarország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2023) Paper: 10325869 , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:34448273 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[34448273] [Admin láttamozott]
3.
Ress, Sandor ✉ ; Sarkany, Zoltan ; Farkas, Gabor ; Rencz, Marta
Accelerating the Thermal Transient Testing by a Novel Temperature Sensitive Parameter Calibration Method based on I-V Characteristic Measurement
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2022) pp. 1-4. , 4 p.
DOI WoS
Közlemény:33698131 Egyeztetett Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 0 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33698131] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 0, Függő: 1, Nem jelölt: 0
4.
Poppe, András ✉ ; Rencz, Márta
On the Accuracy and Repeatability of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 353-369. Paper: Chapter 8 , 17 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589494 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589494] [Nyilvános]
5.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
The Use of Thermal Transient Testing
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 319-352. Paper: Chapter 7 , 34 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589490 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589490] [Nyilvános]
6.
Farkas, Gábor ; Poppe, András ✉ ; Rencz, Márta
Theoretical Background of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 7-96. Paper: Chapter 2 , 90 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589207 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589207] [Nyilvános]
7.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor
Why Was Written and How to Read This Book
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 1-5. Paper: Chapter 1 , 5 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589178 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589178] [Nyilvános]
8.
Rencz, Marta ✉ (szerk.) ; Farkas, Gábor (szerk.) ; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) , 389 p.
DOI ISBN: 9783030861735 ISBN: 9783030861742 Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589137 Nyilvános Forrás Könyv (Szakkönyv ) Tudományos
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos[33589137] [Nyilvános]
9.
Poppe, A. ; Hantos, G. ; Hegedus, J. ; Csuti, P. ; Rencz, M.
Concepts for high throughput LED testing using high-speed optical transients of LEDs
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2022)
DOI WoS Scopus
Közlemény:33339115 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33339115] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
10.
Sárkány, Zoltán ; Musolino, Mattia ; Sitta, Alessandro ; Calabretta, Michele ; Farkas, Gábor ; Németh, Márk ; Rencz, Márta
Thermal Transient Testing Alternatives for the Characterisation of GaN HEMT Power Devices
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : IEEE (2022) Paper: 110 , 5 p.
Egyéb URL
Közlemény:33085919 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33085919] [Nyilvános]
2024-10-09 05:56