mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 419 elem 42 oldalon, 10 listázva, a(z) 1. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
1.
Sándor, László Ress
;
Zoltán, Sárkány
;
Márta, Rencz
;
Gábor, Farkas
Thermal Transient Tests with Programmed Powering on Wide Bandgap Power Devices with Non-monotonous and Time-variant Characteristics
In: Andras, Poppe (szerk.)
Proceedings of the 29th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'23)
Budapest, Magyarország :
IEEE
(2023)
Paper: 1_1_1_ress_150 , 8 p.
DOI
IEEE Xplore
Közlemény:34174520
Admin láttamozott
Forrás
Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos
[34174520]
[Admin láttamozott]
2.
Ress, Sandor ✉
;
Sarkany, Zoltan
;
Farkas, Gabor
;
Rencz, Marta
Accelerating the Thermal Transient Testing by a Novel Temperature Sensitive Parameter Calibration Method based on I-V Characteristic Measurement
In:
Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország :
IEEE
(2022)
, 4 p.
DOI
WoS
Közlemény:33698131
Nyilvános
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[33698131]
[Nyilvános]
3.
Poppe, András ✉
;
Rencz, Márta
On the Accuracy and Repeatability of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc :
Springer-Verlag
(2022)
pp. 353-369. Paper: Chapter 8 , 17 p.
DOI
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:33589494
Nyilvános
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Könyvfejezet )
Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos
[33589494]
[Nyilvános]
4.
Rencz, Márta ✉
;
Farkas, Gábor
;
Sárkány, Zoltán
;
Vass-Várnai, András
The Use of Thermal Transient Testing
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc :
Springer-Verlag
(2022)
pp. 319-352. Paper: Chapter 7 , 34 p.
DOI
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:33589490
Nyilvános
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Könyvfejezet )
Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos
[33589490]
[Nyilvános]
5.
Farkas, Gábor
;
Poppe, András ✉
;
Rencz, Márta
Theoretical Background of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc :
Springer-Verlag
(2022)
pp. 7-96. Paper: Chapter 2 , 90 p.
DOI
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:33589207
Nyilvános
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Könyvfejezet )
Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos
[33589207]
[Nyilvános]
6.
Rencz, Márta ✉
;
Farkas, Gábor
Why Was Written and How to Read This Book
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc :
Springer-Verlag
(2022)
pp. 1-5. Paper: Chapter 1 , 5 p.
DOI
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:33589178
Nyilvános
Forrás
Könyvrészlet (Könyvfejezet )
Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos
[33589178]
[Nyilvános]
7.
Rencz, Marta ✉
(szerk.)
;
Farkas, Gábor
(szerk.)
;
Poppe, András
(szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc :
Springer-Verlag
(2022)
DOI
ISBN:
9783030861735
ISBN:
9783030861742
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:33589137
Nyilvános
Forrás
Könyv (Szakkönyv )
Tudományos
|
Import hibás
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos
[33589137]
[Nyilvános]
8.
Poppe, A.
;
Hantos, G.
;
Hegedus, J.
;
Csuti, P.
;
Rencz, M.
Concepts for high throughput LED testing using high-speed optical transients of LEDs
In:
Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország :
IEEE
(2022)
DOI
WoS
Scopus
Közlemény:33339115
Egyeztetett
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[33339115]
[Egyeztetett]
9.
Sárkány, Zoltán
;
Musolino, Mattia
;
Sitta, Alessandro
;
Calabretta, Michele
;
Farkas, Gábor
;
Németh, Márk
;
Rencz, Márta
Thermal Transient Testing Alternatives for the Characterisation of GaN HEMT Power Devices
In:
Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország :
IEEE
(2022)
Paper: 110 , 5 p.
Egyéb URL
Közlemény:33085919
Nyilvános
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[33085919]
[Nyilvános]
10.
Pálovics, Péter ✉
;
Kerecsen Istvánné Rencz, Márta
Investigation of the motion of magnetic nanoparticles in microfluidics with a micro domain model
MICROSYSTEM TECHNOLOGIES
28
:
6
pp. 1545-1559. , 15 p.
(2022)
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:31665383
Egyeztetett
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4
| Független: 3 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[31665383]
[Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 3, Függő: 1, Nem jelölt: 0
2023-11-28 18:16
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás