mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 2 elem 1 oldalon, 2 listázva, a(z) 1. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
1.
Xue, X.
;
Tao, W.
;
Li, Q.
;
Li, Y.
;
Wang, Y.
;
Yu, L.
;
Gu, X.
;
Xia, T.
;
Lu, R.
;
Wang, R. ✉
et al.
Future risk of falls induced by ankle-foot sprains history: An observational and mendelian randomization study
SPORTS MEDICINE AND HEALTH SCIENCE
(2024)
DOI
Scopus
Közlemény:35130691
Nyilvános
Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[35130691]
[Nyilvános]
2.
Li, Jinping
;
Kang, Xianglian
;
Li, Ke
;
Xu, Ying
;
Wang, Zhengfei
;
Zhang, Xinzhi
;
Guo, Qingjia
;
Ji, Runing
;
Hou, Ying
Clinical significance of dynamical network indices of surface electromyography for reticular neuromuscular control assessment
JOURNAL OF NEUROENGINEERING AND REHABILITATION
20
:
1
Paper: 170 , 10 p.
(2023)
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:34480309
Egyeztetett
Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[34480309]
[Egyeztetett]
2024-12-08 20:41
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás