1.
Al-abassi, Salam A. W. ; Darwish, Mahmoud ; Pohl, László ; Mizsei, János ; Neumann, Péter
Comparative multiphysics simulation of VO2 based lateral devices
In: Vadim, Tsoi; Lorenzo, Codecasa; Bernhard, Wunderle (szerk.) Proceedings of the 27th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'21 online)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2021) pp. 178-181. , 4 p.
DOI IEEE Xplore REAL WoS Scopus Google scholar
Közlemény:32236558 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 0 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32236558] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 0, Függő: 1, Nem jelölt: 0
2.
Darwish, Mahmoud ; Neumann, Péter ; Mizsei, János ; Pohl, László ✉
Electro-Thermal Simulation of Vertical VO2 Thermal-Electronic Circuit Elements
ENERGIES 13 : 13 Paper: 3447 (2020)
DOI WoS Scopus Egyéb URL Teljes dokumentum
Közlemény:31369246 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 6 | Független: 3 | Függő: 3 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 5 | DOI jelölt: 6
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[31369246] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 6, Független: 3, Függő: 3, Nem jelölt: 0
3.
Darwish, Mahmoud ; Neumann, Péter ; Mizsei, János** ; Pohl, László ✉
Study of Dynamic Simulation for Thermal-Electronic Logic Circuits
In: IEEE (szerk.) Proceedings of the 26th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2020) pp. 97-102. Paper: 9420495 , 6 p.
DOI IEEE Xplore Scopus
Közlemény:31778148 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[31778148] [Egyeztetett]
4.
László, Pohl ; Mahmoud, Darwish ; János, Mizsei
Electro-Thermal Investigation of SMT Resistors for Thermal-Electrical Logic Circuits by Simulation
In: 2019 25TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON THERMAL INVESTIGATIONS OF ICS AND SYSTEMS (THERMINIC 2019)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2019) pp. 1-4. Paper: 8923402 , 4 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:30842714 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 0 | Függő: 4 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[30842714] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 0, Függő: 4, Nem jelölt: 0
5.
Paolucci, Federico ; Marchegiani, Giampiero ; Strambini, Elia ; Giazotto, Francesco
Phase-Tunable Thermal Logic: Computation with Heat
PHYSICAL REVIEW APPLIED 10 : 2 Paper: 024003 , 10 p. (2018)
DOI WoS
Közlemény:27606379 Admin láttamozott Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[27606379] [Admin láttamozott]
6.
László, Pohl ; Soma, Ur ; János, Mizsei
Thermoelectrical modelling and simulation of devices based on VO2
MICROELECTRONICS RELIABILITY 79 pp. 387-394. , 8 p. (2017)
DOI ScienceDirect WoS Scopus
Közlemény:3204967 Admin láttamozott Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 12 | Független: 6 | Függő: 6 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 10 | Scopus jelölt: 9 | WoS/Scopus jelölt: 11 | DOI jelölt: 11
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[3204967] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 12, Független: 6, Függő: 6, Nem jelölt: 0
7.
Soma, Ur ; János, Mizsei ; László, Pohl
Modelling of the Thermoelectrical Performance of Devices Based on VO2
In: András, Poppe (szerk.) 2016 22nd International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'16)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2016) 349 p. pp. 307-310. , 4 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus Google scholar
Közlemény:3117643 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 1 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3117643] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 1, Függő: 1, Nem jelölt: 0
8.
János, Mizsei ; Márton, C Bein ; Jyrki, Lappalainen ; László, Juhász
Thermal-Electronic Circuits: Basics, Simulations, Experiments
In: Chris, Bailey; Bernhard, Wunderle; Sebastian, Volz (szerk.) 2015 21st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2015) Paper: 7389599 , 6 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2953874 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2953874] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
9.
J, Mizsei ✉ ; M C, Bein ; J, Lappalainen ; L, Juhász ; B, Plesz
The Phonsistor – A Novel VO2 Based Nanoscale Thermal-electronic Device and Its Application in Thermal-electronic Logic Circuits (TELC)
MATERIALS TODAY: PROCEEDINGS 2 : 8 pp. 4272-4279. , 8 p. (2015)
DOI WoS Scopus
Közlemény:2984697 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 11 | Független: 4 | Függő: 7 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 8 | Scopus jelölt: 10 | WoS/Scopus jelölt: 10 | DOI jelölt: 10
Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk) | Tudományos[2984697] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 11, Független: 4, Függő: 7, Nem jelölt: 0
10.
J, Mizsei ; M C, Bein ; J, Lappalainen ; L, Juhász
Thermal-electronic logic circuits: Scaling down
MICROELECTRONICS JOURNAL 46 : 12 A pp. 1175-1178. , 4 p. (2015)
DOI ScienceDirect WoS Scopus
Közlemény:2976582 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 8 | Független: 2 | Függő: 6 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 7 | Scopus jelölt: 6 | WoS/Scopus jelölt: 8 | DOI jelölt: 8
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2976582] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 8, Független: 2, Függő: 6, Nem jelölt: 0
11.
Mizsei, J ; Bein, M C ; Juhasz, L ; Jelinek, E
Thermal-electronic devices and thermal-electronic logic circuits (TELC)
In: Franz, M; Krammer, O; Nicolics, J; Wohlrabe, H (szerk.) 38th International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2015) pp. 61-65. , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2954107 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 1 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2954107] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 1, Függő: 2, Nem jelölt: 0
12.
János, Mizsei ; Márton, C Bein ; Jyrki, Lappalainen ; László, Juhász
Scaling of Thermal-Electronic Logic Circuits
In: Chris, Bailey; Marta, Rencz; Bernhard, Wunderle (szerk.) 20th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'14)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2014) Paper: 6972509 , 3 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2739978 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2739978] [Nyilvános]
2026-03-15 00:38