mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 1 elem 1 oldalon, 1 listázva, a(z) 1. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
1.
Nemes-Incze, P ✉
;
Osvath, Z
;
Kamaras, K
;
Biro, LP
Anomalies in thickness measurements of graphene and few layer graphite crystals by tapping mode atomic force microscopy
CARBON
46
:
11
pp. 1435-1442. , 8 p.
(2008)
DOI
WoS
Scopus
ADS
arXiv
Google scholar
Központi kezelésű
Közlemény:1168993
Egyeztetett
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 795
| Független: 786 | Függő: 9 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 655 | Scopus jelölt: 590 | WoS/Scopus jelölt: 701 | DOI jelölt: 595
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[1168993]
[Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 795, Független: 786, Függő: 9, Nem jelölt: 0
2026-06-07 13:03
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás