1.
Bornoff, Robin ; Farkas, Gábor ; Gaál, Lajos ; Rencz, Márta ; Poppe, András ✉
Toulouse, Franciaország : IEEE (2018) Paper: Paper 094 , 7 p.
Közlemény:3361248 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 19 | Független: 8 | Függő: 11 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 12 | Scopus jelölt: 16 | WoS/Scopus jelölt: 17 | DOI jelölt: 16
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3361248] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 19, Független: 8, Függő: 11, Nem jelölt: 0
2.
MICROELECTRONICS RELIABILITY 72 : 5 pp. 65-74. , 10 p. (2017)
Közlemény:3207001 Admin láttamozott Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 52 | Független: 45 | Függő: 7 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 44 | Scopus jelölt: 24 | WoS/Scopus jelölt: 46 | DOI jelölt: 49 (Nem nyilvános: 1)
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[3207001] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 52, Független: 45, Függő: 7, Nem jelölt: 0
3.
Poppe, András ✉ ; Hegedűs, János ; Szalai, Albin ; Bornoff, Robin ; Dyson, James
San Jose (CA), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2016) 246 p. pp. 44-49. , 6 p.
Közlemény:2995166 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 15 | Független: 6 | Függő: 9 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 13 | Scopus jelölt: 13 | WoS/Scopus jelölt: 14 | DOI jelölt: 14
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2995166] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 15, Független: 6, Függő: 9, Nem jelölt: 0
2026-06-07 13:17