1.
Székely, Vladimír
A New Evaluation Method of Thermal Transient Measurement Results
MICROELECTRONICS JOURNAL 28 : 3 pp. 277-292. , 16 p. (1997)
DOI WoS Scopus
Közlemény:2670985 Admin láttamozott Forrás Idéző Duplumgyanú Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 378 | Független: 350 | Függő: 28 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 339 | Scopus jelölt: 209 | WoS/Scopus jelölt: 370 | DOI jelölt: 301 (Nem nyilvános: 2)
Nyilvános idéző+említés összesen: 382 | Független: 354 | Függő: 28 | Nem jelölt: 0
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2670985] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 378, Független: 350, Függő: 28, Nem jelölt: 0
Nyilvános idéző+említés összesen: 382, Független: 354, Függő: 28, Nem jelölt: 0
2026-06-15 19:15