1.
László, Pohl ; Mahmoud, Darwish ; János, Mizsei
Electro-Thermal Investigation of SMT Resistors for Thermal-Electrical Logic Circuits by Simulation
In: 2019 25TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON THERMAL INVESTIGATIONS OF ICS AND SYSTEMS (THERMINIC 2019)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2019) pp. 1-4. Paper: 8923402 , 4 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:30842714 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 0 | Függő: 4 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[30842714] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 0, Függő: 4, Nem jelölt: 0
2.
Mizsei, János ; Lappalainen, Jyrki
Microelectronics, Nanoelectronics: step behind the red brick wall using the thermal domain
MATERIALS TODAY: PROCEEDINGS 7 : P3 pp. 888-893. , 6 p. (2019)
DOI WoS Scopus
Közlemény:30546276 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 1 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[30546276] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 1, Függő: 1, Nem jelölt: 0
3.
László, Pohl ; Soma, Ur ; János, Mizsei
Thermoelectrical modelling and simulation of devices based on VO2
MICROELECTRONICS RELIABILITY 79 pp. 387-394. , 8 p. (2017)
DOI ScienceDirect WoS Scopus
Közlemény:3204967 Admin láttamozott Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 12 | Független: 6 | Függő: 6 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 10 | Scopus jelölt: 9 | WoS/Scopus jelölt: 11 | DOI jelölt: 11
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[3204967] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 12, Független: 6, Függő: 6, Nem jelölt: 0
4.
Gergely, Nagy ; Peter, Horvath ; Laszlo, Pohl ; Andras, Poppe
Advancing the thermal stability of 3D ICs using logi-thermal simulation
MICROELECTRONICS JOURNAL 46 : 12, Part: A pp. 1114-1120. , 7 p. (2015)
DOI ScienceDirect WoS Scopus
Közlemény:2908301 Admin láttamozott Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 19 | Független: 1 | Függő: 18 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 18 | Scopus jelölt: 19 | WoS/Scopus jelölt: 19 | DOI jelölt: 19
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2908301] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 19, Független: 1, Függő: 18, Nem jelölt: 0
5.
J, Mizsei ✉ ; M C, Bein ; J, Lappalainen ; L, Juhász ; B, Plesz
The Phonsistor – A Novel VO2 Based Nanoscale Thermal-electronic Device and Its Application in Thermal-electronic Logic Circuits (TELC)
MATERIALS TODAY: PROCEEDINGS 2 : 8 pp. 4272-4279. , 8 p. (2015)
DOI WoS Scopus
Közlemény:2984697 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 11 | Független: 4 | Függő: 7 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 8 | Scopus jelölt: 10 | WoS/Scopus jelölt: 10 | DOI jelölt: 10
Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk) | Tudományos[2984697] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 11, Független: 4, Függő: 7, Nem jelölt: 0
6.
János, Mizsei ; Jyrki, Lappalainen ; Márton, C Bein
Thermal-Electronic Integrated Logic
In: Raad, P E; Rencz, M; Wunderle, B; Poppe, A (szerk.) 19th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC 2013)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2013) 389 p. pp. 128-134. Paper: 6675249 , 4 p.
DOI WoS Scopus Handle
Közlemény:2698758 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 12 | Független: 1 | Függő: 11 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 11 | Scopus jelölt: 11 | WoS/Scopus jelölt: 12 | DOI jelölt: 12
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2698758] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 12, Független: 1, Függő: 11, Nem jelölt: 0
2026-05-16 20:20