1.
Rencz, M ; Poppe, A ; Kollár, E ; Ress, S ; Szekely, V
Increasing the accuracy of structure function based thermal material parameter measurements
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES 28 : 1 pp. 51-57. , 7 p. (2005)
DOI WoS Scopus Teljes dokumentum Handle Google scholar
Közlemény:2607012 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 62 | Független: 58 | Függő: 4 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 43 | Scopus jelölt: 42 | WoS/Scopus jelölt: 53 | DOI jelölt: 48
Nyilvános idéző+említés összesen: 63 | Független: 59 | Függő: 4 | Nem jelölt: 0
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2607012] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 62, Független: 58, Függő: 4, Nem jelölt: 0
Nyilvános idéző+említés összesen: 63, Független: 59, Függő: 4, Nem jelölt: 0
2.
M., Rencz ; V., Székely
Measuring partial thermal resistances in a heat-flow path
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS AND PACKAGING TECHNOLOGIES 25 : 4 pp. 547-553. , 7 p. (2002)
DOI WoS Scopus Teljes dokumentum
Közlemény:2607006 Admin láttamozott Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 120 | Független: 110 | Függő: 10 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 101 | Scopus jelölt: 97 | WoS/Scopus jelölt: 119 | DOI jelölt: 109 (Nem nyilvános: 1)
Nyilvános idéző+említés összesen: 121 | Független: 111 | Függő: 10 | Nem jelölt: 0
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2607006] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 120, Független: 110, Függő: 10, Nem jelölt: 0
Nyilvános idéző+említés összesen: 121, Független: 111, Függő: 10, Nem jelölt: 0
3.
Székely, Vladimír
A New Evaluation Method of Thermal Transient Measurement Results
MICROELECTRONICS JOURNAL 28 : 3 pp. 277-292. , 16 p. (1997)
DOI WoS Scopus
Közlemény:2670985 Admin láttamozott Forrás Idéző Duplumgyanú Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 378 | Független: 350 | Függő: 28 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 339 | Scopus jelölt: 209 | WoS/Scopus jelölt: 370 | DOI jelölt: 301 (Nem nyilvános: 2)
Nyilvános idéző+említés összesen: 382 | Független: 354 | Függő: 28 | Nem jelölt: 0
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2670985] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 378, Független: 350, Függő: 28, Nem jelölt: 0
Nyilvános idéző+említés összesen: 382, Független: 354, Függő: 28, Nem jelölt: 0
4.
Székely, Vladimír ; Tran, van Bien
Fine structure of heat flow path in semiconductor devices: a measurement and identification method
SOLID-STATE ELECTRONICS 31 : 9 pp. 1363-1368. , 6 p. (1988)
DOI WoS Scopus
Közlemény:2670979 Admin láttamozott Forrás Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 378 | Független: 322 | Függő: 56 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 330 | Scopus jelölt: 262 | WoS/Scopus jelölt: 362 | DOI jelölt: 314 (Nem nyilvános: 1)
Nyilvános idéző+említés összesen: 390 | Független: 334 | Függő: 56 | Nem jelölt: 0
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2670979] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 378, Független: 322, Függő: 56, Nem jelölt: 0
Nyilvános idéző+említés összesen: 390, Független: 334, Függő: 56, Nem jelölt: 0
2026-06-15 10:46