1.
Cardoso, André Gil ; Barros, Hugo ; Hantos, Gusztav
Fabrication, Performance and Reliability of a Thermally Enhanced Wafer Level Fan Out Demonstrator with Integrated Heatsink
In: András, Poppe (szerk.) 2016 22nd International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'16)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2016) 349 p. pp. 336-344. , 9 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3148012 Egyeztetett Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3148012] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2026-03-08 04:52