1.
Bak, Márton ; Papp, Dorottya ; Tamás, Csongor ; Buttyán, Levente
Clustering IoT Malware based on Binary Similarity
In: IEEE (szerk.) NOMS 2020 - 2020 IEEE/IFIP Network Operations and Management Symposium: Management in the Age of Softwarization and Artificial Intelligence
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2020) Paper: 9110432 , 6 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Zárolt Közlemény:31316039 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 4 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[31316039] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 4, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2025-05-19 15:33