1.
Ress, Sándor ✉ ; Farkas, Gábor ; Darwish, Mahmoud ; Rencz, Marta ; Sarkany, Zoltan
Improved Thermal Transient Testing of GaN Devices Manufactured with Various Construction Principles
In: d'Alessandro, Vincenzo (szerk.) 2025 31st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2025) Paper: 11216958 , 6 p.
DOI Scopus
Közlemény:36355274 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[36355274] [Admin láttamozott]
2.
Ress, S. ✉ ; Sarkany, Z. ; Rencz, M. ; Farkas, G.
Thermal Transient Tests with Programmed Powering on Wide Bandgap Power Devices of Non-Monotonous and Time-Variant Characteristics
In: Poppe, András (szerk.) Proceedings of the 29th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'23)
Budapest, Magyarország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2023) Paper: 10325869 , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:34448273 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[34448273] [Admin láttamozott]
3.
Sárkány, Zoltán
Extending the thermal transient testing methodology for reliability testing of power electronics components 107 p.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem, Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem, Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola, Kerecsen Istvánné Rencz Márta Védés éve: 2023 Megjelenés/Fokozatszerzés éve: 2023
Műegyetem Digitális Archívum ODT védés
Közlemény:34736023 Nyilvános Forrás Disszertáció (PhD ) Tudományos
PhD (Disszertáció) | Tudományos[34736023] [Nyilvános]
4.
Sárkány, Zoltán ; Musolino, Mattia ; Sitta, Alessandro ; Calabretta, Michele ; Farkas, Gábor ; Németh, Márk ; Rencz, Márta
Thermal Transient Testing Alternatives for the Characterisation of GaN HEMT Power Devices
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2022) pp. 1-4. , 4 p.
DOI Egyéb URL
Közlemény:33085919 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33085919] [Nyilvános]
5.
Farkas, Gábor ✉ ; Poppe, András ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
Thermal Transient Measurements on Various Electronic Components
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 209-318. Paper: Chapter 6 , 110 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589441 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589441] [Nyilvános]
6.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
The Use of Thermal Transient Testing
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 319-352. Paper: Chapter 7 , 34 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589490 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589490] [Nyilvános]
7.
András, Poppe ; András, Vass-Várnai ; Zoltán, Sárkány ; Márta, Rencz ; Gusztáv, Hantos ; Gábor, Farkas
Suggestions for Extending the Scope of the Transient Dual Interface Method
In: Vadim, Tsoi; Lorenzo, Codecasa; Bernhard, Wunderle (szerk.) Proceedings of the 27th International Workshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems (THERMINIC'21 online)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2021) pp. 23-30. , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:32236544 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 7 | Független: 7 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 7 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 7 | DOI jelölt: 7
Nyilvános idéző+említés összesen: 8 | Független: 8 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32236544] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 7, Független: 7, Függő: 0, Nem jelölt: 0
Nyilvános idéző+említés összesen: 8, Független: 8, Függő: 0, Nem jelölt: 0
8.
Ress, S. ; Sarkany, Z. ; Farkas, G. ; Rencz, M.
On the Correction of the Effects of Electrical Transients in the Measured Thermal Transients
In: IEEE, , (szerk.) 2021 IEEE 23rd Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2021) pp. 399-404. , 6 p.
DOI Scopus
Közlemény:32801699 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32801699] [Admin láttamozott]
9.
Farkas, Gabor ; Schweitzer, Dirk ; Sarkany, Zoltan ; Rencz, Marta ✉
On the Reproducibility of Thermal Measurements and of Related Thermal Metrics in Static and Transient Tests of Power Devices
ENERGIES 13 : 3 p. 557 (2020)
DOI WoS Scopus Egyéb URL Teljes dokumentum
Közlemény:31198732 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 6 | Független: 6 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 5 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 6 | DOI jelölt: 6
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[31198732] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 6, Független: 6, Függő: 0, Nem jelölt: 0
10.
Sarkany, Zoltan ✉ ; Rencz, Marta ✉
Methods for the Separation of Failure Modes in Power-Cycling Tests of High-Power Transistor Modules Using Accurate Voltage Monitoring
ENERGIES 13 : 11 p. 2718 (2020)
DOI WoS Scopus Egyéb URL Teljes dokumentum
Közlemény:31328729 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 6 | Független: 6 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 6 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 6 | DOI jelölt: 6
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[31328729] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 6, Független: 6, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2026-02-07 11:59