1.
Bein, Marton C. ; Bornoff, Robin ; Farkas, Gabor ; Gaal, Lajos ; Poppe, Andras ; Rencz, Marta ✉
Measurement-Based Multi-Domain Modeling of LEDs for “Industry 4.0”
In: Proceedings of The 18th Intersociety Conference on Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITHERM'19)
Las Vegas, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2019) pp. 23-30. , 8 p.
DOI ISSN: 1936-3958 IEEE Xplore WoS Scopus Egyéb URL
Közlemény:30881278 Egyeztetett Forrás Idéző Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[30881278] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2.
Gábor, Farkas ; Lajos, Gaál ; Márton, Bein ; András, Poppe ; Sándor, Ress ; Márta, Rencz
LED Characterization within the Delphi4LED Project
In: Jeffrey, C Suhling (szerk.) Proceedings of The 17th Intersociety Conference on Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITHERM'18)
San Diego, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2018) 1,410 p. p. 262 Paper: p393 , 9 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3378564 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 4 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3378564] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 4, Függő: 0, Nem jelölt: 0
3.
Bein, Márton C ; Hegedűs, János ; Hantos, Gusztáv ; Gaál, Lajos ; Farkas, Gábor ; Rencz, Márta ; Poppe, András
Comparison of Two Alternate Junction Temperature Setting Methods aimed for Thermal and Optical Testing of High Power LEDs
In: W, Luiten; J, Janssen; G, Martin (szerk.) 2017 23rd International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'17)
Amsterdam, Hollandia : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2017) Paper: Paper_164 , 4 p.
DOI IEEE Xplore WoS
Közlemény:3257748 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3257748] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
4.
G, Hantos ; J, Hegedüs ; M C, Bein ; L, Gaál ; G, Farkas ; Z, Sarkany ; S, Ress ; A, Poppe ; M, Rencz
Measurement issues in LED characterization for Delphi4LED style combined electrical-optical-thermal LED modeling
In: IEEE (szerk.) 2017 IEEE 19th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2017) Paper: 173 , 7 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3285479 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 2 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3285479] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 2, Függő: 1, Nem jelölt: 0
5.
Gabor, Farkas ; Marton, C Bein ; Lajos, Gaál
Multi domain modelling of power LEDs based on measured isothermal and transient I-V-L characteristics
In: András, Poppe (szerk.) 2016 22nd International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'16)
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2016) 349 p. pp. 181-186. , 6 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3213229 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 8 | Független: 8 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 8 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 8 | DOI jelölt: 8
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3213229] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 8, Független: 8, Függő: 0, Nem jelölt: 0
6.
Janos, Mizsei ; Laszlo, Juhasz ; Marton, C Bein
Thermal nanoelectronics (2015)
EuroNanoForum 2015 conference (ENF 2015), 10-12 June 2015, Riga, Latvia (poszter, 1A-29, Best Poster Award), Megjelenés: Lettország,
Közlemény:2906520 Jóváhagyott Forrás Egyéb (Nem besorolt )
Nem besorolt (Egyéb) | Tudományos[2906520] [Nyilvános]
7.
Attila, Szel ; Zoltan, Sarkany ; Marton, Bein ; Robin, Bornoff ; Andras, Vass-Varnai ; Marta, Rencz
Mission profile driven component design for adjusting product lifetime on system level
In: IEEE (szerk.) Proceedings of International Conference on Electronics Packaging
New York, Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2015) pp. 385-389. , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2911926 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2911926] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
8.
Attila, Szel ; Zoltan, Sarkany ; Marton, Bein ; Robin, Bornoff ; Andras, Vass-Varnai ; Marta, Rencz
Lifetime estimation of power electronics modules considering the target application
In: Paul, Wesling (szerk.) Proceedings of the 31st IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'15)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2015) pp. 332-335. , 4 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2911949 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 3 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2911949] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 3, Függő: 0, Nem jelölt: 0
9.
János, Mizsei ; Márton, C Bein ; Jyrki, Lappalainen ; László, Juhász
Thermal-Electronic Circuits: Basics, Simulations, Experiments
In: Chris, Bailey; Bernhard, Wunderle; Sebastian, Volz (szerk.) 2015 21st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2015) Paper: 7389599 , 6 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2953874 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2953874] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
10.
Mizsei, J ; Bein, M C ; Juhasz, L ; Jelinek, E
Thermal-electronic devices and thermal-electronic logic circuits (TELC)
In: Franz, M; Krammer, O; Nicolics, J; Wohlrabe, H (szerk.) 38th International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2015) pp. 61-65. , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2954107 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 1 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2954107] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 1, Függő: 2, Nem jelölt: 0
2026-02-14 03:27