21.
Robin, Bornoff ; Thomas, Mérelle ; Josephine, Sari ; Alessandro, Di Bucchianico ; Gábor, Farkas
A Methodology to Determine the Sites of Variability in an LED Assembly
In: Proceedings of the 35th Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM'19)
San Jose (CA), Amerikai Egyesült Államok : SEMI-THERM Educational Foundation (2019) pp. 1-6. , 6 p.
Közlemény:30609864 Nyilvános Forrás Idéző Duplumgyanú Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[30609864] [Nyilvános]
22.
Vass-Varnai, A. ; Cho, Y.J. ; Farkas, G. ; Rencz, M.
An Alternative Method to Accurately Determine the Thermal Resistance of SiC MOSFET Structures with Discrete Diodes
In: IPEC, - ECCE Asia; Sangyō, Ōyō Bumon; IEEE, Power Electronics Society; IEEE, Industry Applications Society (szerk.) 2018 INTERNATIONAL POWER ELECTRONICS CONFERENCE (IPEC-NIIGATA 2018 -ECCE ASIA)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2018) pp. 137-141. Paper: 8507995 , 5 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:31322686 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 1 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[31322686] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 1, Függő: 1, Nem jelölt: 0
23.
Farkas, G ; Gaal, L ; Poppe, A ✉ ; Rencz, M ; Bornoff, R
LED multiphysics modeling for “Industry 4.0”, an approach proposed by the Delphi4LED European project
In: Proceedings of the 20th IEEE Electronics Packaging Technology Conference (EPTC'18)
(2018) p. 10.1109/EPTC.2018.8654351 , 6 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus Egyéb URL
Közlemény:30593570 Egyeztetett Forrás Idéző Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[30593570] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
24.
Farkas, Gábor ; Hara, Tomoaki ; Rencz, Márta
Thermal transient testing
In: Katsuaki, Suganuma (szerk.) Wide Bandgap Power Semiconductor Packaging
Sawston, Egyesült Királyság / Anglia : Woodhead Publishing (2018) pp. 127-153. , 27 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:30593397 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[30593397] [Nyilvános]
25.
A, Poppe ✉ ; M, Rencz ; G, Hantos ; J, Hegedüs ; G, Farkas ; L, Gaál
Virtual prototyping of LED applications through multi-domain models of LED packages: the “Industry 4.0”-like approach of the Delphi4LED project
In: IEEE (szerk.) Proceedings of the VII. IEEE Lighting Conference of the Visegrad Countries LUMEN V4
Trebic, Csehország : IEEE (2018) pp. 91-94. , 4 p.
DOI IEEE Xplore Scopus
Közlemény:3411813 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3411813] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
26.
T, Mérelle ; R, Bornoff ; G, Onushkin ; L, Gaál ; G, Farkas ; A, Poppe ; G, Hantos ; J, Sari ; A, Di Bucchianico
Modeling and quantifying LED variability
In: Proceedings of 2018 LED Professional Symposium (LpS 2018)
(2018) Paper: Delphi4LED , 10 p.
Közlemény:3411807 Nyilvános Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[3411807] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
27.
G, Farkas ; A, Poppe ; L, Gaál ; G, Hantos ; Cs, Berényi ; M, Rencz
Structural analysis and modelling of packaged light emitting devices by thermal transient measurements at multiple boundaries
In: Vadim, Tsoi; Johan, Liu (szerk.) 2018 24rd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2018) Paper: 152 , 7 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3411804 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 4 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3411804] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 4, Függő: 0, Nem jelölt: 0
28.
Gaál, Lajos ; Hegedüs, János ; Poppe, András ; Farkas, Gábor ; Rencz, Márta
Továbblépés a LED multi-domain modellezés terén
In: 9. Magyar LED Konferencia
Budapest, Magyarország : Magyar Elektrotechnikai Egyesület Világítástechnikai Társaság (2018) Paper: 9.LED-konf-LED_modellezes3.pdf
Egyéb URL
Közlemény:3393644 Admin láttamozott Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Nem besorolt ) Nem besorolt jellegű
Nem besorolt (Egyéb konferenciaközlemény) | Nem besorolt jellegű[3393644] [Admin láttamozott]
29.
Gábor, Farkas ; Lajos, Gaál ; Márton, Bein ; András, Poppe ; Sándor, Ress ; Márta, Rencz
LED Characterization within the Delphi4LED Project
In: Jeffrey, C Suhling (szerk.) Proceedings of The 17th Intersociety Conference on Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITHERM'18)
San Diego (CA), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2018) 1,410 p. p. 262 Paper: p393 , 9 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3378564 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 3 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3378564] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 3, Függő: 0, Nem jelölt: 0
30.
Bornoff, Robin ; Farkas, Gábor ; Gaál, Lajos ; Rencz, Márta ; Poppe, András ✉
LED 3D Thermal Model Calibration against Measurement
In: IEEE (szerk.) Proceedings of the 19th International Conference on Thermal, Mechanical and Multiphysics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE'18)
Toulouse, Franciaország : IEEE (2018) Paper: Paper 094 , 7 p.
DOI IEEE Xplore Scopus
Közlemény:3361248 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 19 | Független: 8 | Függő: 11 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 12 | Scopus jelölt: 16 | WoS/Scopus jelölt: 17 | DOI jelölt: 16
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3361248] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 19, Független: 8, Függő: 11, Nem jelölt: 0
2024-05-24 17:40