1.
Ress, Sándor ✉ ; Farkas, Gábor ; Darwish, Mahmoud ; Rencz, Marta ; Sarkany, Zoltan
Improved Thermal Transient Testing of GaN Devices Manufactured with Various Construction Principles
In: d'Alessandro, Vincenzo (szerk.) 2025 31st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2025) Paper: 11216958 , 6 p.
DOI Scopus
Közlemény:36355274 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[36355274] [Admin láttamozott]
2.
Ress, S. ✉ ; Sarkany, Z. ; Rencz, M. ; Farkas, G.
Thermal Transient Tests with Programmed Powering on Wide Bandgap Power Devices of Non-Monotonous and Time-Variant Characteristics
In: Poppe, András (szerk.) Proceedings of the 29th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'23)
Budapest, Magyarország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2023) Paper: 10325869 , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:34448273 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[34448273] [Admin láttamozott]
3.
Sárkány, Zoltán ; Musolino, Mattia ; Sitta, Alessandro ; Calabretta, Michele ; Farkas, Gábor ; Németh, Márk ; Rencz, Márta
Thermal Transient Testing Alternatives for the Characterisation of GaN HEMT Power Devices
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2022) pp. 1-4. , 4 p.
DOI Egyéb URL
Közlemény:33085919 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33085919] [Nyilvános]
4.
Rencz, Marta ✉ (szerk.) ; Farkas, Gábor (szerk.) ; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) , 389 p.
DOI ISBN: 9783030861735 ISBN: 9783030861742 Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589137 Nyilvános Forrás Könyv (Szakkönyv ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos[33589137] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
5.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor
Why Was Written and How to Read This Book
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 1-5. Paper: Chapter 1 , 5 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589178 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589178] [Nyilvános]
6.
Farkas, Gábor ; Poppe, András ✉ ; Rencz, Márta
Theoretical Background of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 7-96. Paper: Chapter 2 , 90 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589207 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589207] [Nyilvános]
7.
Poppe, András ✉ ; Farkas, Gábor
Thermal Metrics
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 97-137. Paper: Chapter 3 , 41 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589399 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589399] [Nyilvános]
8.
Farkas, Gábor ✉
Temperature-Dependent Electrical Characteristics of Semiconductor Devices
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 139-169. Paper: Chapter 4 , 31 p.
DOI Egyéb URL
Közlemény:33589413 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589413] [Nyilvános]
9.
Farkas, Gábor ✉
Fundamentals of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 171-208. Paper: Chapter 5 , 38 p.
DOI Egyéb URL
Közlemény:33589426 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589426] [Nyilvános]
10.
Farkas, Gábor ✉ ; Poppe, András ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
Thermal Transient Measurements on Various Electronic Components
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 209-318. Paper: Chapter 6 , 110 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589441 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589441] [Nyilvános]
2026-02-14 03:44