1.
Ress, S. ✉ ; Sarkany, Z. ; Rencz, M. ; Farkas, G.
Thermal Transient Tests with Programmed Powering on Wide Bandgap Power Devices of Non-Monotonous and Time-Variant Characteristics
In: Poppe, András (szerk.) 2023 29th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
Budapest, Magyarország : IEEE (2023) Paper: 10325869 , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:34448273 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[34448273] [Admin láttamozott]
2.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
The Use of Thermal Transient Testing
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 319-352. Paper: Chapter 7 , 34 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589490 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589490] [Nyilvános]
3.
Farkas, Gábor ✉ ; Poppe, András ; Sárkány, Zoltán ; Vass-Várnai, András
Thermal Transient Measurements on Various Electronic Components
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 209-318. Paper: Chapter 6 , 110 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589441 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589441] [Nyilvános]
4.
Farkas, Gábor ✉
Fundamentals of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 171-208. Paper: Chapter 5 , 38 p.
DOI Egyéb URL
Közlemény:33589426 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589426] [Nyilvános]
5.
Farkas, Gábor ✉
Temperature-Dependent Electrical Characteristics of Semiconductor Devices
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 139-169. Paper: Chapter 4 , 31 p.
DOI Egyéb URL
Közlemény:33589413 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589413] [Nyilvános]
6.
Poppe, András ✉ ; Farkas, Gábor
Thermal Metrics
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 97-137. Paper: Chapter 3 , 41 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589399 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589399] [Nyilvános]
7.
Farkas, Gábor ; Poppe, András ✉ ; Rencz, Márta
Theoretical Background of Thermal Transient Measurements
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 7-96. Paper: Chapter 2 , 90 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589207 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589207] [Nyilvános]
8.
Rencz, Márta ✉ ; Farkas, Gábor
Why Was Written and How to Read This Book
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer-Verlag (2022) pp. 1-5. Paper: Chapter 1 , 5 p.
DOI Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589178 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589178] [Nyilvános]
9.
Rencz, Marta ✉ (szerk.) ; Farkas, Gábor (szerk.) ; Poppe, András (szerk.)
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer Netherlands (2022)
DOI ISBN: 9783030861735 ISBN: 9783030861742 Scopus Egyéb URL
Közlemény:33589137 Nyilvános Forrás Könyv (Szakkönyv ) Tudományos | Import hibás
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos[33589137] [Nyilvános]
10.
Sárkány, Zoltán ; Musolino, Mattia ; Sitta, Alessandro ; Calabretta, Michele ; Farkas, Gábor ; Németh, Márk ; Rencz, Márta
Thermal Transient Testing Alternatives for the Characterisation of GaN HEMT Power Devices
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : IEEE (2022) Paper: 110 , 5 p.
Egyéb URL
Közlemény:33085919 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33085919] [Nyilvános]
2024-04-25 14:45