1.
Ress, Sándor ✉ ; Farkas, Gábor ; Darwish, Mahmoud ; Rencz, Marta ; Sarkany, Zoltan
Improved Thermal Transient Testing of GaN Devices Manufactured with Various Construction Principles
In: d'Alessandro, Vincenzo (szerk.) 2025 31st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2025) Paper: 11216958 , 6 p.
DOI Scopus
Közlemény:36355274 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[36355274] [Admin láttamozott]
2.
Ress, Sandor ✉ ; Farkas, Gabor ; Rencz, Marta
Analytical Prediction of the Thermal Behavior of Semiconductor Power Devices from Room-Temperature I–V Measurements
ENERGIES 17 : 12 Paper: 2931 , 23 p. (2024)
DOI WoS Scopus
Közlemény:35133146 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[35133146] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
3.
Ress, S. ✉ ; Sarkany, Z. ; Rencz, M. ; Farkas, G.
Thermal Transient Tests with Programmed Powering on Wide Bandgap Power Devices of Non-Monotonous and Time-Variant Characteristics
In: Poppe, András (szerk.) Proceedings of the 29th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'23)
Budapest, Magyarország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2023) Paper: 10325869 , 8 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:34448273 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[34448273] [Admin láttamozott]
4.
Ress, Sandor ✉ ; Sarkany, Zoltan ; Farkas, Gabor ; Rencz, Marta
Accelerating the Thermal Transient Testing by a Novel Temperature Sensitive Parameter Calibration Method based on I-V Characteristic Measurement
In: Proceedings of the 28th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'22)
Dublin, Írország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2022) pp. 1-4. , 4 p.
DOI WoS
Közlemény:33698131 Egyeztetett Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 0 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33698131] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 0, Függő: 1, Nem jelölt: 0
5.
Ress, S. ; Sarkany, Z. ; Farkas, G. ; Rencz, M.
On the Correction of the Effects of Electrical Transients in the Measured Thermal Transients
In: IEEE, , (szerk.) 2021 IEEE 23rd Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : IEEE (2021) pp. 399-404. , 6 p.
DOI Scopus
Közlemény:32801699 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32801699] [Admin láttamozott]
6.
Gábor, Farkas ; Lajos, Gaál ; Márton, Bein ; András, Poppe ; Sándor, Ress ; Márta, Rencz
LED Characterization within the Delphi4LED Project
In: Jeffrey, C Suhling (szerk.) Proceedings of The 17th Intersociety Conference on Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITHERM'18)
San Diego, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2018) 1,410 p. p. 262 Paper: p393 , 9 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3378564 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4 | Független: 4 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3378564] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 4, Függő: 0, Nem jelölt: 0
7.
G, Hantos ; J, Hegedüs ; M C, Bein ; L, Gaál ; G, Farkas ; Z, Sarkany ; S, Ress ; A, Poppe ; M, Rencz
Measurement issues in LED characterization for Delphi4LED style combined electrical-optical-thermal LED modeling
In: IEEE (szerk.) 2017 IEEE 19th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2017) Paper: 173 , 7 p.
DOI IEEE Xplore WoS Scopus
Közlemény:3285479 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3 | Független: 2 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[3285479] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 2, Függő: 1, Nem jelölt: 0
8.
T, Lavrennko ; K, Marzinzig ; T, Walter ; B, Plesz ; S, Ress
On the application of the vibrating Kelvin probe method for quality control of Cu(In,Ga)(Se,S)2 thin-film solar modules
PROGRESS IN PHOTOVOLTAICS: RESEARCH AND APPLICATIONS 24 : 12 pp. 1554-1565. , 12 p. (2016)
DOI WoS Scopus
Közlemény:3030623 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 1 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[3030623] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 1, Függő: 1, Nem jelölt: 0
9.
B., Plesz ; P. G., Szabó ; D., Dudola ; G., Hantos ; S., Ress
Possibilities and Challenges of Thermal Transient Testing as a Characterization Method for Photovoltaic Devices
In: S., Rinck; N., Taylor; P., Helm (szerk.) 31st European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition : EU PVSEC 2015 Proceedings Papers
München, Németország : WIP-Renewable Energies (2015) pp. 2031-2034. Paper: 5AV.6.31 , 4 p.
DOI
Közlemény:2966156 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2966156] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
10.
B., Plesz ✉ ; S., Ress ; P. G., Szabó ; G., Hantos ; D., Dudola
Issues of Thermal Transient Testing on Photovoltaic Modules
In: Chris, Bailey; Marta, Rencz; Bernhard, Wunderle (szerk.) 20th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'14)
New York, Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2014) pp. 1-4. Paper: 6972511 , 4 p.
DOI WoS Scopus
Közlemény:2767104 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 9 | Független: 9 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 7
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2767104] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 9, Független: 9, Függő: 0, Nem jelölt: 0
2026-02-09 18:28