1.
Zangenehzadeh, Soraya ; Agócs, Emil ; Jivani, Harsh ; Könemund, Lea ; Neumann, Laurie ; Hirschberg, Felix ; Herdan, Svenja ; Biedendieck, Rebekka ; Jahn, Dieter ; Roth, Bernhard W. et al.
Bacteria detection in a Kretschmann geometry flow cell at a plasmon-enhanced interface with spectroscopic ellipsometer
THIN SOLID FILMS 764 Paper: 139583 , 5 p. (2023)
DOI WoS Scopus Google scholar
Közlemény:33362909 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 7 | Független: 4 | Függő: 3 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 7 | Scopus jelölt: 5 | WoS/Scopus jelölt: 7 | DOI jelölt: 7
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[33362909] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 7, Független: 4, Függő: 3, Nem jelölt: 0
2.
Romanenko, A. ; Agócs, E. ; Hózer, Z. ; Petrik, P. ; Serényi, M.
Concordant element of the oxidation kinetics—Interpretation of ellipsometric measurements on Zr
APPLIED SURFACE SCIENCE 573 Paper: 151543 , 8 p. (2022)
DOI WoS REAL EDIT Scopus Google scholar
Központi kezelésű Közlemény:32592444 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 5 | Független: 2 | Függő: 3 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 4 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 4
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[32592444] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 5, Független: 2, Függő: 3, Nem jelölt: 0
3.
Romanenko, A. ; Agócs, E. ; Hózer, Z. ; Petrik, P. ; Serényi, M.
In-situ ellipsometry on the oxidation of zirconium at medium temperatures
In: Fried, Miklós (szerk.) Symposium on Materials Science
Mátraháza, Magyarország : Óbudai Egyetem (2022) 30 p. pp. 25-28. , 4 p.
Teljes dokumentum Google scholar
Központi kezelésű Közlemény:32834519 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32834519] [Egyeztetett]
4.
Lohner, Tivadar ; Németh, Attila ; Zolnai, Zsolt ; Kalas, Benjamin ; Romanenko, Alekszej ; Khánh, Nguyen Quoc ; Szilágyi, Edit ; Kótai, Endre ; Agócs, Emil ; Tóth, Zsolt et al.
Disorder and cavity evolution in single-crystalline Ge during implantation of Sb ions monitored in-situ by spectroscopic ellipsometry
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING 152 Paper: 107062 , 11 p. (2022)
DOI REAL WoS DEA Scopus Google scholar SZTE Publicatio
Központi kezelésű Közlemény:33077841 Nyilvános Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 5 | Független: 4 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 3 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 4
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[33077841] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 5, Független: 4, Függő: 1, Nem jelölt: 0
5.
Baji, Zsofia ; Cora, Ildiko ; Horvath, Zsolt Endre ; Agocs, Emil ; Szabo, Zoltan
Atomic layer deposition and characterization of Zn-doped Ga2O3 films
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS 39 : 3 Paper: 032411 , 9 p. (2021)
DOI WoS REAL Scopus Google scholar
Közlemény:32055088 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 17 | Független: 17 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 17 | Scopus jelölt: 17 | WoS/Scopus jelölt: 17 | DOI jelölt: 17
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[32055088] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 17, Független: 17, Függő: 0, Nem jelölt: 0
6.
Romanenko, A. ; Agócs, E. ; Hózer, Z. ; Petrik, P. ; Serényi, M.
In-situ Ellipsometry on the Oxidation of Zirconium at Medium Temperatures
In: Sergey, Y. Yurish (szerk.) Proceedings of the 4th International Conference on Optics, Photonics and Lasers (OPAL' 2021)
Barcelona, Spanyolország : International Frequency Sensor Association (IFSA) (2021) pp. 138-139. , 2 p.
REAL Google scholar hash
Zárolt Közlemény:32604145 Egyeztetett Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[32604145] [Egyeztetett]
7.
Lohner, Tivadar ; Németh, Attila ; Zolnai, Zsolt ; Kalas, Benjamin ; Romanenko, Alekszej ; Nguyen, Quoc Khánh ; Szilágyi, Edit ; Kótai, Endre ; Agócs, Emil ; Tóth, Zsolt et al.
In-Situ Control of Defect Dynamics By Ellipsometry During Ion Implantation–Evolution of Disorder and Cavity Structure in Single-Crystalline Ge During Implantation of Sb Ions , 17 p. (2021)
SCIENTIFIC REPORTS (2045-2322) 11; 2021, 2022-ben megjelent "Disorder and cavity evolution in single-crystalline Ge during implantation of Sb ions monitored in-situ by spectroscopic ellipsometry" címmel,
Preprint DOI REAL Google scholar
Központi kezelésű Közlemény:35131953 Egyeztetett Forrás Idéző Egyéb (Csak repozitóriumban hozzáférhető közlemény ) Tudományos
Csak repozitóriumban hozzáférhető közlemény (Egyéb) | Tudományos[35131953] [Egyeztetett]
8.
Saftics, A ; Türk, B ; Sulyok, A ; Nagy, N ; Agócs, E ; Kalas, B ; Petrik, P ; Fried, M ; Khánh, NQ ; Prósz, A et al.
Dextran-based Hydrogel Layers for Biosensors
In: Chandra, Pranjal; Prakash, Rajiv (szerk.) Nanobiomaterial Engineering
Singapore, Szingapúr : Springer Singapore (2020) pp. 139-164. , 26 p.
DOI REAL Scopus Egyéb URL Google scholar
Központi kezelésű Közlemény:31292882 Egyeztetett Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 6 | Független: 6 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 4 | WoS/Scopus jelölt: 4 | DOI jelölt: 5
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[31292882] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 6, Független: 6, Függő: 0, Nem jelölt: 0
9.
Khomenkova, L. ; Lehninger, D. ; Agocs, E. ; Petrik, P. ; Portier, X. ; Korsunska, N. ; Melnichuk, O. ; Gourbilleau, F. ; Heitmann, J.
Whether Ge-Rich ZrO2 and Ge-Rich HfO2 Materials Have Similar Reaction on Annealing Treatment?
ECS TRANSACTIONS 97 : 1 pp. 49-60. , 12 p. (2020)
DOI REAL Scopus Google scholar
Zárolt Közlemény:31378071 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk) | Tudományos[31378071] [Egyeztetett]
10.
Rim, Min-Ho ; Agocs, Emil ; Dixson, Ronald ; Kavuri, Prem ; Vladár, András E. ; Attota, Ravi Kiran
Detecting nanoscale contamination in semiconductor fabrication using through-focus scanning optical microscopy
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY B-NANOTECHNOLOGY AND MICROELECTRONICS 38 : 5 Paper: 050602 , 6 p. (2020)
DOI WoS REAL Scopus Google scholar
Közlemény:31612687 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 12 | Független: 11 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 12 | Scopus jelölt: 10 | WoS/Scopus jelölt: 12 | DOI jelölt: 11
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[31612687] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 12, Független: 11, Függő: 1, Nem jelölt: 0
2026-03-15 02:56