mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 161 elem 17 oldalon, 10 listázva, a(z) 1. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
1.
Blecha, Tomas
;
Krammer, Oliver
Foreword: Advanced Materials, Process Innovations, and Microelectronics Reliability
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
16
:
4
pp. 643-644. , 2 p.
(2026)
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Közlemény:37114353
Admin láttamozott
Forrás
Folyóiratcikk (Ismertetés )
Nem besorolt jellegű
Ismertetés (Folyóiratcikk) | Nem besorolt jellegű
[37114353]
[Admin láttamozott]
2.
Illés, Balázs ✉
;
Skwarek, Agata
;
Hurtony, Tamás
;
Krammer, Olivér
;
Medgyes, Bálint
;
Szostak, Krzysztof
;
Harsányi, Gábor
;
Kovács, András
;
Pécz, Béla
Risk of transition to lead-free in the space sector: Sn whisker growth in thermal vacuum conditions from submicron Sn layer
MATERIALS AND DESIGN
250
Paper: 113637 , 12 p.
(2025)
DOI
REAL
WoS
Scopus
Google scholar
Központi kezelésű
Közlemény:35699718
Egyeztetett
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 8
| Független: 6 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 7 | Scopus jelölt: 7 | WoS/Scopus jelölt: 7 | DOI jelölt: 8
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[35699718]
[Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 8, Független: 6, Függő: 2, Nem jelölt: 0
3.
Illés, Balázs
;
Géczy, Attila
;
Tafferner, Zoltán
;
Skwarek, Agata
;
Krammer, Olivér
Low-Temperature Soldering (LTS) in the Electronics Industry: a Brief Review
In: IEEE - IEEE (szerk.)
2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2025)
Paper: 11120985 , 6 p.
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Központi kezelésű
Közlemény:36294465
Egyeztetett
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3
| Független: 3 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 3
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[36294465]
[Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 3, Függő: 0, Nem jelölt: 0
4.
Wodak, Irina
;
Khatibti, Golta
;
Yakymovych, Andriy
;
Walter, Thomas
;
Nicolics, Johann
;
Géczy, Attila
;
Krammer, Oliver
Investigation of Electromigration in Cu-Sn Interfaces under the Condition of High-Current Pulses
In: IEEE - IEEE (szerk.)
2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2025)
Paper: 11121002 , 5 p.
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Központi kezelésű
Közlemény:36296141
Egyeztetett
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[36296141]
[Egyeztetett]
5.
Krammer, Oliver ✉
;
Kovács, Patrik
;
Géczy, Attila
Investigating the Mechanical Behaviour of Biodegradable Substrates
In: IEEE - IEEE (szerk.)
2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2025)
Paper: 11121027 , 5 p.
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Központi kezelésű
Közlemény:36298320
Egyeztetett
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[36298320]
[Egyeztetett]
6.
Rous, Pavel
;
Krammer, Olivér
;
Medgyes, Bálint
;
Steiner, František
Mechanical Strength of Aged Solder Joints: Impact of Plasma Treatment
In: IEEE - IEEE (szerk.)
2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2025)
Paper: 11120910 , 6 p.
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Központi kezelésű
Közlemény:36307724
Egyeztetett
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[36307724]
[Egyeztetett]
7.
Wodak, Irina ✉
;
Géczy, Attila
;
Krammer, Oliver
;
Illés, Balázs
;
Michałowski, Paweł Piotr
;
Tafferner, Zoltán
;
Khatibi, Golta
;
Yakymovych, Andriy
Influence of Fe-Nanoparticle Doped Flux on Electromigration Effects in SAC305 Solder Joints
JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH AND TECHNOLOGY
38
pp. 5866-5877. , 12 p.
(2025)
DOI
WoS
Scopus
Egyéb URL
Központi kezelésű
Közlemény:36327409
Egyeztetett
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 4
| Független: 3 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 3
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[36327409]
[Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 4, Független: 3, Függő: 1, Nem jelölt: 0
8.
Tarpataki, Nóra ✉
;
Krammer, Olivér
;
Bonyár, Attila
Development of Hydrosoluble Substrate with Low Surface Roughness
In: IEEE - IEEE (szerk.)
2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2025)
Paper: 11120949 , 5 p.
DOI
WoS
Scopus
Központi kezelésű
Közlemény:36346090
Admin láttamozott
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[36346090]
[Admin láttamozott]
9.
Tafferner, Zoltán
;
Havellant, Gergő
;
Krammer, Olivér
;
Illés, Balázs
;
Hurtony, Tamás
;
Géczy, Attila
Effect of Electromigration in Tin-Bismuth and SAC Lead-Free Solder Joints of 0402 and 0201 Chip Resistors
In: Chindris, Gabriel
2025 IEEE 31st International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME)
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2025)
pp. 292-297. , 6 p.
DOI
Scopus
Egyéb URL
Központi kezelésű
Közlemény:36740820
Admin láttamozott
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[36740820]
[Admin láttamozott]
10.
Z., Tafferner
;
G., Havellant
;
O., Krammer
;
B., Illés
;
T., Hurtony
;
I., Wodak
;
A., Géczy
Electromigration in Lead-Free SMD Solder Joints: Decreasing Sizes, Increasing Risk
(2025)
Megjelenés: Magyarország,
Központi kezelésű
Közlemény:36847053
Admin láttamozott
Forrás
Egyéb (Nem besorolt )
Tudományos
Nem besorolt (Egyéb) | Tudományos
[36847053]
[Admin láttamozott]
2026-06-13 17:54
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás