mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 106 elem 11 oldalon, 10 listázva, a(z) 2. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
11.
Sziray, J
Complexity Comparisons in Logic Testing
ACTA TECHNICA JAURINENSIS
4
:
1
pp. 59-69. , 11 p.
(2011)
Közlemény:2228532
Admin láttamozott
Forrás
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[2228532]
[Admin láttamozott]
12.
Sziray, J
Test generation and computational complexity
In: IEEE (szerk.)
2011 IEEE 17th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2011)
[s.l.], Nemzetközi :
IEEE
(2011)
pp. 286-287. Paper: 6133096 , 2 p.
DOI
Scopus
Közlemény:2224392
Admin láttamozott
Forrás
Könyvrészlet (Absztrakt / Kivonat )
Tudományos
Absztrakt / Kivonat (Könyvrészlet) | Tudományos
[2224392]
[Admin láttamozott]
13.
Sziray, J
A test model for hardware and software
In: IEEE (szerk.)
2011 IEEE 17th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2011)
[s.l.], Nemzetközi :
IEEE
(2011)
pp. 292-293. Paper: 6133099 , 2 p.
DOI
Scopus
Közlemény:2224391
Admin láttamozott
Forrás
Könyvrészlet (Absztrakt / Kivonat )
Tudományos
Absztrakt / Kivonat (Könyvrészlet) | Tudományos
[2224391]
[Admin láttamozott]
14.
Sziray, J
Computational Complexity in Logic Testing
In: Szakál, A (szerk.)
14th International Conference on Intelligent Engineering Systems, INES 2010: Proceedings
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2010)
pp. 97-102. , 6 p.
DOI
Közlemény:2363011
Admin láttamozott
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[2363011]
[Admin láttamozott]
15.
J, Sziray
A Logic Model for Inference Chains in Expert Systems
pp. 243-248.
In: Karras, DA; Majkic, Z; Li, C; Prasanna, SRM (szerk.)
International Conference on Artificial Intelligence and Pattern Recognition 2007 (AIPR-07)
[hiányzó városnév] :
Curran Associates, Inc.
,
(2010)
p. 559
Közlemény:2362917
Admin láttamozott
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[2362917]
[Admin láttamozott]
16.
Sziray, J ; Kovács, K
Az UML nyelv használata
Budapest, Magyarország :
Logsoft Informatikai Bt.
(2010)
,
180 p.
ISBN:
9789630666497
Közlemény:2228559
Admin láttamozott
Forrás
Könyv (Felsőoktatási tankönyv )
|
Oktatási
Felsőoktatási tankönyv (Könyv) | Oktatási
[2228559]
[Admin láttamozott]
17.
Sziray, József
Bevezetés a Java programozási nyelvbe
Budapest, Magyarország :
Logsoft Informatikai Bt.
(2009)
ISBN:
9789630680257
Közlemény:2363016
Admin láttamozott
Forrás
Könyv (Felsőoktatási tankönyv )
|
Oktatási
Felsőoktatási tankönyv (Könyv) | Oktatási
[2363016]
[Admin láttamozott]
18.
Sziray, J
Bevezetés a szoftver-technológiába
Budapest, Magyarország :
Logsoft Informatikai Bt.
(2009)
,
161 p.
ISBN:
9789630666497
Közlemény:2228523
Admin láttamozott
Forrás
Könyv (Felsőoktatási tankönyv )
|
Oktatási
Felsőoktatási tankönyv (Könyv) | Oktatási
[2228523]
[Admin láttamozott]
19.
Sziray, József
A computational model for inference chains in expert systems
In: Rudas, I; Horváth, L (szerk.)
Proceedings of the IEEE 13th international conference on Intelligent Engineering Systems, INES 2009
New York, Amerikai Egyesült Államok :
IEEE
(2009)
pp. 183-188. , 6 p.
DOI
WoS
Scopus
Közlemény:2224399
Nyilvános
Forrás Idéző
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[2224399]
[Nyilvános]
20.
Sziray, J
Transistor-level test calculation for CMOS circuits
In: Szakál, A (szerk.)
IEEE 7th International Conference on Computational Cybernetics : ICCC 2009
Budapest, Magyarország :
IEEE Hungary Section
(2009)
pp. 85-90. Paper: 5393957 , 6 p.
DOI
Scopus
Közlemény:2224397
Admin láttamozott
Forrás
Könyvrészlet (Konferenciaközlemény )
Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos
[2224397]
[Admin láttamozott]
2024-05-02 03:20
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás