1.
Sziray, J
Test Generation for Short-Circuit Faults in Digital Circuits
In: Kóczy, LT; Pozna, CR; Kacprzyk, J (szerk.) Issues and Challenges of Intelligent Systems and Computational Intelligence
Cham (Németország), Németország : Springer International Publishing, (2014) pp. 313-319. , 7 p.
Közlemény:2541524 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Szaktanulmány )
Szaktanulmány (Könyvrészlet) | Tudományos[2541524] [Admin láttamozott]
2.
J, Sziray
Evaluation of Boolean Graphs in Software Testing
In: Szakál, Anikó (szerk.) Proceedings of IEEE 9th International Conference on Computational Cybernetics (ICCC 2013)
Budapest, Magyarország : IEEE (2013) pp. 225-230. , 6 p.
Közlemény:2400401 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2400401] [Admin láttamozott]
3.
József, Sziray
Test Generation for Short-circuit Faults in Digital Circuits pp. 46-50.
In: Alex, Tormási; László, T Kóczy; Claudiu, Radu Pozna (szerk.) Fifth Győr Symposium and First Hungarian-Polish Joint Conference on Computational Intelligence
Győr, Magyarország : Széchenyi István Egyetem, (2012)
Közlemény:2414627 Admin láttamozott Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény )
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[2414627] [Admin láttamozott]
4.
Benyó, B ; Kondorosi, K ; Sziray, J
Operációs rendszerek alapjai
Budapest, Magyarország : Logsoft Informatikai Bt. (2012) , 210 p.
ISBN: 9789638950512
Közlemény:2362961 Admin láttamozott Forrás Könyv (Felsőoktatási tankönyv ) | Oktatási
Felsőoktatási tankönyv (Könyv) | Oktatási[2362961] [Admin láttamozott]
5.
Sziray, J
Szakértői rendszerek alapjai
Budapest, Magyarország : Logsoft Informatikai Bt. (2012) , 134 p.
ISBN: 9789638950505
Közlemény:2362933 Admin láttamozott Forrás Könyv (Felsőoktatási tankönyv ) | Oktatási
Felsőoktatási tankönyv (Könyv) | Oktatási[2362933] [Admin láttamozott]
6.
J, Sziray
Test Design of Digital Systems
Győr, Magyarország : Széchenyi University Press (2012) , 158 p.
ISBN: 9789639819900
Közlemény:2362924 Admin láttamozott Forrás Könyv (Szakkönyv )
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos[2362924] [Admin láttamozott]
7.
Sziray, J
Test calculation for logic and short-circuit faults in digital circuits
In: Szakál, Anikó (szerk.) Proceedings of the IEEE 16th International Conference on Intelligent Engineering Systems 2012
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2012) pp. 121-124. Paper: 6249815 , 4 p.
DOI Scopus Teljes dokumentum Google scholar hash
Közlemény:2224389 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2224389] [Admin láttamozott]
8.
J, Sziray
Complexity Comparisons in Test Generation for Logic Circuits
In: IEEE 13-th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV-2011)
(2011) pp. 46-52. , 7 p.
Közlemény:2431542 Admin láttamozott Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[2431542] [Admin láttamozott]
9.
J, Sziray
Complexity Comparisons in Test Calculation
WORLD ACADEMY OF SCIENCE ENGINEERING AND TECHNOLOGY 7 : 79 pp. 1126-1132. , 7 p. (2011)
Közlemény:2363023 Admin láttamozott Forrás Folyóiratcikk (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk) | Tudományos[2363023] [Admin láttamozott]
10.
Sziray, J ; Gaul, G
Vállalati információs rendszerek I.
Budapest, Magyarország : Logsoft Informatikai Bt. (2011) , 214 p.
ISBN: 9789630828420
Közlemény:2362978 Admin láttamozott Forrás Könyv (Felsőoktatási tankönyv ) | Oktatási
Felsőoktatási tankönyv (Könyv) | Oktatási[2362978] [Admin láttamozott]
2024-04-19 01:09