mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 2 elem 1 oldalon, 2 listázva, a(z) 1. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
1.
J, Mizsei
;
A, Czett
Characterization of 4H-SiC surfaces by non-destructive techniques based on capacitance voltage measurements
APPLIED SURFACE SCIENCE
301
pp. 19-23. , 5 p.
(2014)
DOI
WoS
Scopus
Közlemény:2733856
Nyilvános
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[2733856]
[Nyilvános]
2.
J, Mizsei
;
A, Czett
Electrical characterization of surface and interface potentials on SiC
APPLIED SURFACE SCIENCE
258
:
21
pp. 8343-8348. , 6 p.
(2012)
DOI
WoS
Scopus
Google scholar
Google scholar hash
Közlemény:2687217
Admin láttamozott
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 3
| Független: 2 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 3 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 3 | DOI jelölt: 3
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[2687217]
[Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 3, Független: 2, Függő: 1, Nem jelölt: 0
2025-12-05 11:59
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás