mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
Előző oldal
Összesen 21 elem 3 oldalon, 1 listázva, a(z) 3. oldal megjelenítve.
Következő oldal
Átlépés a keresőbe
In English
Megjelenítési opciók
Nyelv információ
Absztrakt
Típus információ
Megjegyzés
Státusz információ
Linkek
Csak független idézők
Idézők
Nincs
Szám
Rövid
Részletes
Teljes
Rendezés
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
-
Megjelenés éve
Első szerző
Cím
Első oldal v. cikkazonosító
Létrehozás dátuma
Nyilvános idézők összesen
Nyilvános idéző+említés összesen
Státusz
Típus
Besorolás
Jelleg
OA típus
MTMT azonosító
Folyóirat
Nyelv
▼
▲
Találatok
10
20
50
100
1000
5000
Mód váltás:
XML
JSON
Lista exportálása:
Irodalomjegyzékként
RIS
BIBTEX
21.
Horvath, E
;
Nemeth, A
;
Koos, AA
;
Bein, MC
;
Toth, AL
;
Horvath, ZE
;
Biro, LP
;
Gyulai, J
Focused ion beam based sputtering yield measurements on ZnO and Mo thin films
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES
42
:
1-6
pp. 392-397. , 6 p.
(2007)
DOI
WoS
Scopus
Google scholar
Közlemény:1180475
Egyeztetett
Forrás Idéző
Folyóiratcikk (Szakcikk )
Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 13
| Független: 11 | Függő: 2 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 8 | Scopus jelölt: 8 | WoS/Scopus jelölt: 10 | DOI jelölt: 6
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos
[1180475]
[Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 13, Független: 11, Függő: 2, Nem jelölt: 0
2026-02-18 16:57
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás