1.
Naples, Olaszország : IEEE (2025) Paper: S_PS_A_13_Ress_145 , 6 p.
Közlemény:36355274 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[36355274] [Nyilvános]
2.
Ress, Sandor ✉ ; Farkas, Gabor ; Rencz, Marta
ENERGIES 17 : 12 Paper: 2931 , 23 p. (2024)
Közlemény:35133146 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[35133146] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
3.
Budapest, Magyarország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2023) Paper: 10325869 , 8 p.
Közlemény:34448273 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[34448273] [Admin láttamozott]
4.
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 7-96. Paper: Chapter 2 , 90 p.
Közlemény:33589207 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589207] [Nyilvános]
5.
MICROSYSTEM TECHNOLOGIES 28 : 6 pp. 1545-1559. , 15 p. (2022)
Közlemény:31665383 Egyeztetett Forrás Idéző Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 10 | Független: 9 | Függő: 1 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 9 | Scopus jelölt: 2 | WoS/Scopus jelölt: 9 | DOI jelölt: 9
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[31665383] [Egyeztetett]
Nyilvános idéző összesen: 10, Független: 9, Függő: 1, Nem jelölt: 0
6.
Dublin, Írország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2022) pp. 1-7. , 7 p.
Közlemény:33339115 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 1 | Független: 1 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 1 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 1 | DOI jelölt: 1
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[33339115] [Admin láttamozott]
Nyilvános idéző összesen: 1, Független: 1, Függő: 0, Nem jelölt: 0
7.
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 353-369. Paper: Chapter 8 , 17 p.
Közlemény:33589494 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589494] [Nyilvános]
8.
Rencz, Marta ✉ (szerk.) ; Farkas, Gábor (szerk.) ; Poppe, András (szerk.)
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) , 389 p.
Közlemény:33589137 Nyilvános Forrás Könyv (Szakkönyv ) Tudományos
Nyilvános idéző összesen: 2 | Független: 2 | Függő: 0 | Nem jelölt: 0 | WoS jelölt: 2 | Scopus jelölt: 1 | WoS/Scopus jelölt: 2 | DOI jelölt: 2
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos[33589137] [Nyilvános]
Nyilvános idéző összesen: 2, Független: 2, Függő: 0, Nem jelölt: 0
9.
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 1-5. Paper: Chapter 1 , 5 p.
Közlemény:33589178 Nyilvános Forrás Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589178] [Nyilvános]
10.
In: Rencz, Marta ✉; Farkas, Gábor; Poppe, András (szerk.) Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components
Cham, Svájc : Springer International Publishing (2022) 389 p. pp. 319-352. Paper: Chapter 7 , 34 p.
Közlemény:33589490 Nyilvános Forrás Idéző Könyvrészlet (Könyvfejezet ) Tudományos
Könyvfejezet (Könyvrészlet) | Tudományos[33589490] [Nyilvános]
2025-12-05 13:38