1.
Sziray, J
Test Generation for Short-Circuit Faults in Digital Circuits
In: Kóczy, LT; Pozna, CR; Kacprzyk, J (szerk.) Issues and Challenges of Intelligent Systems and Computational Intelligence
Cham (Németország), Németország : Springer International Publishing, (2014) pp. 313-319. , 7 p.
Közlemény:2541524 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Szaktanulmány )
Szaktanulmány (Könyvrészlet) | Tudományos[2541524] [Admin láttamozott]
2.
J, Sziray
Evaluation of Boolean Graphs in Software Testing
In: Szakál, Anikó (szerk.) Proceedings of IEEE 9th International Conference on Computational Cybernetics (ICCC 2013)
Budapest, Magyarország : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2013) pp. 225-230. , 6 p.
Közlemény:2400401 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2400401] [Admin láttamozott]
3.
József, Sziray
Test Generation for Short-circuit Faults in Digital Circuits pp. 46-50.
In: Alex, Tormási; László, T Kóczy; Claudiu, Radu Pozna (szerk.) Fifth Győr Symposium and First Hungarian-Polish Joint Conference on Computational Intelligence
Győr, Magyarország : Széchenyi István Egyetem, (2012)
Közlemény:2414627 Admin láttamozott Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény )
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[2414627] [Admin láttamozott]
4.
J, Sziray
Test Design of Digital Systems
Győr, Magyarország : Széchenyi University Press (2012) , 158 p.
ISBN: 9789639819900
Közlemény:2362924 Admin láttamozott Forrás Könyv (Szakkönyv ) Tudományos
Szakkönyv (Könyv) | Tudományos[2362924] [Admin láttamozott]
5.
Sziray, J
Test calculation for logic and short-circuit faults in digital circuits
In: Szakál, Anikó (szerk.) Proceedings of the IEEE 16th International Conference on Intelligent Engineering Systems 2012
Piscataway (NJ), Amerikai Egyesült Államok : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (2012) pp. 121-124. Paper: 6249815 , 4 p.
DOI Scopus Teljes dokumentum Google scholar hash
Közlemény:2224389 Admin láttamozott Forrás Idéző Könyvrészlet (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) | Tudományos[2224389] [Admin láttamozott]
6.
J, Sziray
Complexity Comparisons in Test Calculation
WORLD ACADEMY OF SCIENCE ENGINEERING AND TECHNOLOGY 7 : 79 pp. 1126-1132. , 7 p. (2011)
Közlemény:2363023 Admin láttamozott Forrás Folyóiratcikk (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Folyóiratcikk) | Tudományos[2363023] [Admin láttamozott]
7.
J, Sziray
Complexity Comparisons in Test Generation for Logic Circuits
In: IEEE 13-th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV-2011)
(2011) pp. 46-52. , 7 p.
Közlemény:2431542 Admin láttamozott Forrás Egyéb konferenciaközlemény (Konferenciaközlemény ) Tudományos
Konferenciaközlemény (Egyéb konferenciaközlemény) | Tudományos[2431542] [Admin láttamozott]
8.
Sziray, J
A test model for hardware and software
In: IEEE (szerk.) 2011 IEEE 17th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2011)
[s.l.], Nemzetközi : IEEE (2011) pp. 292-293. Paper: 6133099 , 2 p.
DOI Scopus
Közlemény:2224391 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Absztrakt / Kivonat ) Tudományos
Absztrakt / Kivonat (Könyvrészlet) | Tudományos[2224391] [Admin láttamozott]
9.
Sziray, J
Test generation and computational complexity
In: IEEE (szerk.) 2011 IEEE 17th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2011)
[s.l.], Nemzetközi : IEEE (2011) pp. 286-287. Paper: 6133096 , 2 p.
DOI Scopus
Közlemény:2224392 Admin láttamozott Forrás Könyvrészlet (Absztrakt / Kivonat ) Tudományos
Absztrakt / Kivonat (Könyvrészlet) | Tudományos[2224392] [Admin láttamozott]
10.
Sziray, J
Complexity Comparisons in Logic Testing
ACTA TECHNICA JAURINENSIS 4 : 1 pp. 59-69. , 11 p. (2011)
Közlemény:2228532 Admin láttamozott Forrás Folyóiratcikk (Szakcikk ) Tudományos
Szakcikk (Folyóiratcikk) | Tudományos[2228532] [Admin láttamozott]
2026-05-14 07:05