mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Comprehensive characterisation of the Al-Cu binary thin film system: Correlation between composition, microstructure and mechanical properties
Olasz, Dániel [Olasz, Dániel (Anyagtudomány), szerző] Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet (HUN-REN EK); Vékonyrétegfizika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA); Fizika Doktori Iskola (ELTE / TTK)
;
Szász, Noémi [Szász, Noémi (mfa), szerző] Vékonyrétegfizika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Kolonits, Tamás [Kolonits, Tamás (anyagfizika), szerző] Vékonyrétegfizika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Radnóczi, György [Radnóczi, György (Anyagtudomány), szerző] Vékonyrétegfizika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
;
Chinh, Nguyen Quang [Nguyen Quang, Chinh (Szilárdtestfizika...), szerző] Anyagfizikai Tanszék (ELTE / TTK / FizCsill_I)
;
Sáfrán, György [Sáfrán, György (Vékonyrétegfizika), szerző] Vékonyrétegfizika Laboratórium (HUN-REN EK / MFA)
Angol nyelvű Szakcikk (Folyóiratcikk) Tudományos
Megjelent:
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS 0925-8388 1873-4669
1051
Paper: 186114
, 9 p.
2026
SJR Scopus - Materials Chemistry: Q1
Azonosítók
MTMT: 36857575
DOI:
10.1016/j.jallcom.2026.186114
REAL:
231903
WoS:
001665460600001
Scopus:
105027028921
Google scholar hash:
2Z-_Um43WsAJ
Idézett közlemények (1)
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2026-02-11 08:24
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás