Machine Learning Techniques for Data Validation in Wide Area Measurement Systems

Bobcek, Marek; Conka, Zsolt; Simcak, Julius

Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos

Megjelent: Szakál Anikó. IEEE 23rd World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics SAMI 2025. (2025) ISBN:9798350379365 pp. 000317-000320

Azonosítók

MTMT: 35891659
DOI: 10.1109/SAMI63904.2025.10883305
Egyéb URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/10883305/

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2026-10-18 04:53