mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

Opto-Ireland 2005: Nanotechnology and Nanophotonics

Blau, W.J. [szerk.]; Kennedy, D. [szerk.]; Colreavy, J. [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: 2005

Konferencia: Opto-Ireland 2005: Nanotechnology and Nanophotonics 2005-04-05

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 5824

Azonosítók

MTMT: 35713491

Fejezetek

Rogante M. et al. Nanoscale characterisation by SANS and residual stresses determination by neutron diffraction related to materials and components of technological interest. (2005) Megjelent: Opto-Ireland 2005: Nanotechnology and Nanophotonics pp. 294-305

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-17 11:33

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás