Advanced Photon Counting Techniques XVII 2023

Itzler, M.A. [szerk.]; Bienfang, J.C. [szerk.]; McIntosh, K.A. [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: SPIE 2023

Konferencia: Advanced Photon Counting Techniques XVII 2023 2023-05-02

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 12512

Azonosítók

MTMT: 35609645
ISBN: 9781510661387

Fejezetek

Ratti L. et al. Radiation effects and underlying damage mechanisms in the dark count rate of CMOS SPADs. (2023) Megjelent: Advanced Photon Counting Techniques XVII 2023

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-11 07:06