mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
International Conference on Optical Diagnosis of Materials and Devices for Opto-, Micro and Quantum Electronics 1997
Svechnikov, S.V. [szerk.]
;
Valakh, M.YA. [szerk.]
Angol nyelvű Tudományos
Megjelent:
1997
Konferencia:
International Conference on Optical Diagnosis of Materials and Devices for Opto-, Micro and Quantum Electronics 1997 1997-05-13 [Kiev, Ukrajna]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 3359
Azonosítók
MTMT: 35179238
Fejezetek
Bor Z. et al. Measurement of dispersive properties of optical materials and mirrors using spectrally resolved white-light interferometry. (1997) Megjelent: International Conference on Optical Diagnosis of Materials and Devices for Opto-, Micro and Quantum Electronics 1997 pp. 132-137
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-11 20:45
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás