mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1995

Svechnikov, S.V. [szerk.]; Valakh, M.Y. [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: SPIE 1995

Konferencia: International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1995 1995-05-11

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 2648

Azonosítók

MTMT: 35088988

Fejezetek

Rudko G. et al. Photoluminescent and infrared Fourier diagnostics of porous silicon exposed to HF destructive etching. (1995) Megjelent: International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1995 pp. 304-314
Evstigneev A.M. et al. Evidence for the transport-related effects in the photoluminescence from porous silicon. (1995) Megjelent: International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1995 pp. 396-402

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-11 20:59

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás