International Conference on Applied Optical Metrology

Rastogi, P.K. [szerk.]; Gyimesi, F [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos
Megjelent: 1998
Konferencia: International Conference on Applied Optical Metrology 1998-06-08
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 3407
    Azonosítók
    • MTMT: 35078645
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-17 12:43