mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Idézők
/
Idézések
Digital twin driven assembly line re-balancing and decision support
Lugaresi, Giovanni
;
Kovacs, Laszlo [Kovács, László (Ipar 4.0), szerző] Automatizálási és Alkalmazott Informatikai Tanszék (BME / VIK)
;
Tamas, Kornel [Tamás, Kornél (Gépészet), szerző] Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent:
Grzonka Daniel. Proceedings of the 38th ECMS International Conference on Modelling and Simulation, ECMS 2024. (2024) ISBN:9783937436845
pp. 164-170
Azonosítók
MTMT: 35022537
DOI:
10.7148/2024-0164
WoS:
001488251600024
Scopus:
85195182992
Recent investments in industrial digitization together with the concrete need for short-term planning capabilities mean digital twins can effectively aid enterprises in the management of their production systems and value chains. This paper introduces a conceptual framework for assembly line re-balancing in the context of Industry 5.0, focusing on manual assembly processes. The framework aims to leverage a digital twin for obtaining a synchronized representation of the current task allocations in the assembly line, and uses data-driven scenario generation methods for investigating alternative balancing solutions that are proposed to operators in real time. A proof-of-concept platform is implemented in a laboratory environment, utilizing an assembly line with industrial components. Preliminary results demonstrate the compatibility of the proposed components within the digital twin framework. The potential applicability to various manual assembly scenarios is discussed, along with considerations for incorporating additional constraints in the evaluation process. ©ECMS Daniel Grzonka, Natalia Rylko, Grazyna Suchacka, Vladimir Mityushev (Editors) 2024.
Idézők (1)
Idézett közlemények (1)
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2026-02-13 17:36
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás