mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Investigation of Thermal Design Issues of a Bimaterial MEMS
Deák, E. Dávid [Deák, Elemér Dávid (Elektronikus eszk...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK)
;
Plesz, Balázs [Plesz, Balázs (Mikroelektronika,...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK)
;
Szabó, Péter G. [Szabó, Péter Gábor (Elektronikus eszk...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK)
Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent:
Poppe András. Proceedings of the 29th International Workshop on THERMal INvestigation of ICs and Systems (THERMINIC'23). (2023) ISBN:9798350318623
Paper: 10325870
, 4 p.
Azonosítók
MTMT: 34448276
DOI:
10.1109/THERMINIC60375.2023.10325870
IEEE Xplore:
10325870
WoS:
001108606800013
Scopus:
85179623832
Támogatások:
(TKP2021-NVA-02) Támogató: NKFIH
Szakterületek:
Mikro (rendszer) tervezés
Villamosmérnöki tudományok: félvezetők, alkatrészek, rendszerek
As the application of micro-electromechanical systems (MEMS) in today's sensors and actuators have become common, there are still many open questions in terms of analytical analysis, which is related to their operation in multiple physical domains. Beside the numerical analysis it is essential to have a precise view of their behaviour which is required to derive system level models in the later phases of the design process to perform design of experiment (DoE) analysis as well. In this paper the out of plane displacement of bimaterial microbeams is investigated which are the parts of a larger MEMS, designed to use for Kelvin probe measurements. The analytical formula for maximal displacement is derived from the well-known expression using the different coefficients of thermal expansions (CTEs) when a beam composed of two materials is heated. The derived formula is compared to numerical simulation, where an empirical scaling factor is introduced to compensate the inaccuracies. The material and geometry dependence of this scale factor were also investigated and presented in this article. © 2023 IEEE.
Idézett közlemények (3)
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2026-05-19 02:13
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás