System diagnosis and prognosis: security and condition monitoring issues III

Willett, PK [szerk.]; Kirubarajan, T [szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: International Society for Optical Engineering (SPIE), Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok, 174 p. 2003
Konferencia: Conference on System Diagnosis and Prognosis: Security and Condition Monitoring Issues III 2003-04-21 [Orlando (FL), Amerikai Egyesült Államok]
Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 5107
    Azonosítók
    Fejezetek
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-28 10:44