Optical Manufacturing and Testing X

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: SPIE, Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok 2013

Konferencia: Optical Manufacturing and Testing X 2013-08-26

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 8838

Azonosítók

MTMT: 34058750
ISBN: 9780819496881

Fejezetek

Zheng J.R. et al. Metrology measurements for large aperture VPH gratings. (2013) Megjelent: Optical Manufacturing and Testing X

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-17 11:03