Háromdimenziós testszkenner alkalmazási lehetőségei a testtartáselemzésben

Molnár-Zékány, Szabina [Molnár-Zékány, Szabina (Zékány Szabina), szerző] Hatvany József Informatikai tudományok Doktori ... (ME / GIK)

Magyar nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent: Vadászné Bognár Gabriella. Doktoranduszok fóruma : Miskolc, 2022. november 17. : Gépészmérnöki és Informatikai Kar szekciókiadványa. (2024) ISBN:9789633583289 pp. 68-74
    Azonosítók
    • MTMT: 34048672
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2026-06-15 03:28