Functional IN CIRCUIT tester with FPAA

György, Györök [Györök, György (Beágyazott hibrid...), author] Mérnöki Intézet (ÓU / ARF); Margit, Makó [Makó, Margit (matematika), author] Természettudományi és Szoftvertechnológiai Intézet (ÓU / ARF); Olga, Shvets

English Conference paper (Chapter in Book) Scientific
Published: IEEE [ed.]. IEEE 21st World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics SAMI (2023) : Proceedings. (2023) ISBN:9798350319859 pp. 181-184
    Cited in (3)
    Citing (21)
    Citation styles: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLCopyPrint
    2026-03-14 23:34