Functional IN CIRCUIT tester with FPAA

György, Györök [Györök, György (Beágyazott hibrid...), szerző] Mérnöki Intézet (ÓE / AMK); Margit, Makó [Makó, Margit (matematika), szerző] Természettudományi és Szoftvertechnológiai Intézet (ÓE / AMK); Olga, Shvets

Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent: IEEE [szerk.]. IEEE 21st World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics SAMI (2023) : Proceedings. (2023) ISBN:9798350319859 pp. 181-184
    Idézők (3)
    Idézett közlemények (21)
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2026-02-08 06:05