OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION XII

Lehmann, P [szerk.]; Osten, W [szerk.]; Goncalves, AA [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: 2021

Sorozatok: null 0277-786X 1996-756X 978-1-5106-4399 -4, 11782

Azonosítók

MTMT: 33588941

Fejezetek

Eifler M et al. Towards a continuous frequency band chirp material measure for surface topography measuring instrument calibration. (2021) Megjelent: OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION XII

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-17 06:00