The influence of the cycling parameters on the reliability test results of IGBTs

Z, Sarkany [Sárkány, Zoltán (mikroelektronika,...), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK); M, Rencz [Kerecsen Istvánné Rencz, Márta (Mikroelektronika), szerző] Elektronikus Eszközök Tanszéke (BME / VIK)

Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
Megjelent: IEEE. 2017 IEEE 19th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC). (2017) ISBN:9781538630426 Paper: 8277513 , 4 p.
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2026-02-10 06:27