mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering
Hoefling, Roland [szerk.]
;
Jueptner, Werner P. O. [szerk.]
;
Kujawinska, Malgorzata [szerk.]
Angol nyelvű Tudományos
Megjelent: SPIE, Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok
2001
Konferencia:
Lasers in Metrology and Art Conservation 2001-06-18 [Munich, Németország]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 4399
Azonosítók
MTMT: 33150460
Fejezetek
Wang Baoliang B.. Near-infrared linear birefringence measurement system using a photoelastic modulator. (2001) Megjelent: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering pp. 89-97
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-17 00:20
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás