mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Large Mirrors and Telescopes
Jiang, Wenhan [szerk.]
;
Geyl, Roland [szerk.]
;
Cho, Myung K. [szerk.]
;
Wu, Fan [szerk.]
Angol nyelvű Tudományos
Megjelent: SPIE, Bellingham (WA), Amerikai Egyesült Államok
2008
Konferencia:
4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and testing Technologies: Large Mirrors and Telescopes 2008-11-19 [Chengdu, Kína]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 7281
Azonosítók
MTMT: 33150435
Fejezetek
Jiang Wenhan et al. Evolution of wavelength shrinkage in lithography. (2009) Megjelent: 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Large Mirrors and Telescopes p. 728102
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-17 00:20
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás