Three-dimensional analysis of aligner gaps and thickness distributions using advanced laboratory-based hard X-ray tomography

Ammann, R. ✉; Tanner, C. ✉; Schulz, G.; Osmani, B.; Nalabothu, P.; Töpper, T.; Müller, B.

Angol nyelvű Konferenciaközlemény (Könyvrészlet) Tudományos
    Azonosítók
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-04-25 22:14