mtmtMagyar Tudományos Művek Tára

XML JSON Átlépés a keresőbe In English

Symposium on Materials Science

Fried, Miklós [Fried, Miklós (Szilárdtestfizika), szerk.]

Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos

Megjelent: Óbudai Egyetem, Mátraháza, Magyarország 2022

Konferencia: Symposium on Materials Science 2021-10-04 [Mátraháza, Magyarország]

Azonosítók

MTMT: 32834505
ISBN: 9789634492900
REAL: 142952
Teljes dokumentum: https://ellipsometry.hu/Symposium-on-Materials-Science%20Matrahaza-October-4%E2%80%936-2021-ISBN-978-963-449-290-0.pdf

Fejezetek

Dániel Péter Szekrényes et al. Investigating the electric double layer directed self assembly of oppositely charged gold nanospheres. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 7-10
Zoltán Farkas et al. Soft-computing based Technological Support for Droplet Epitaxially Grown Zero-dimensional GaAs Structures. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 11-11
Kalas Benjamin et al. Surface-enhanced Kretschmann-Raether ellipsometry based on plasmonic, Bragg and waveguide structures. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 12-14
Dániel Zámbó. Nanoparticle gel networks as a novel platform in electrochemical sensing. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 15-19
József Bálint Renkó et al. Analysis of the microstructure of color etched low carbon steel with spectroscopic ellipsometry. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 20-24
Romanenko A. et al. In-situ ellipsometry on the oxidation of zirconium at medium temperatures. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 25-28
D. Olasz. et al. Microstructure of composition spread YTiO thin films. (2022) Megjelent: Symposium on Materials Science pp. 29-30

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2023-03-27 22:54

×

Lista exportálása irodalomjegyzékként

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago HarvardNyomtatásMásolás