mtmt
Magyar Tudományos Művek Tára
XML
JSON
Átlépés a keresőbe
In English
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VI
Peter, H Lehmann [szerk.]
Angol nyelvű Konferenciakötet (Könyv) Tudományos
Megjelent: SPIE, Munich, Németország
2009
Konferencia:
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VI 2009-06-15 [München, Németország]
Sorozatok:
Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 7389
Azonosítók
MTMT: 3241399
ISBN:
9780819476722
Fejezetek
B Gombkötő et al. Digital interferometry using sequentially recorded intensity patterns. (2009) Megjelent: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VI pp. 73890X-17-73890X-6
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
CSL
Másolás
Nyomtatás
2025-04-11 22:27
×
Lista exportálása irodalomjegyzékként
Hivatkozás stílusok:
IEEE
ACM
APA
Chicago
Harvard
Nyomtatás
Másolás