Adaptív tesztek minimális hosszának, hibájának, értékelési szintjének és a megoldók számának összefüggései – általános megoldási aránnyal

T., Kárász Judit [T. Kárász, Judit (Országos kompeten...), szerző] PhD Neveléstudományi Doktori Iskola (ELTE / PPK); Neveléstudományi Intézet (ELTE / PPK); Takács, Szabolcs [Takács, Szabolcs (Alkalmazott matem...), szerző] Károli Gáspár Református Egyetem; Általános Lélektani és Módszertani Tanszék (KRE / BTK)

Magyar nyelvű Absztrakt / Kivonat (Könyvrészlet) Tudományos
    Azonosítók
    • MTMT: 32177110
    Hivatkozás stílusok: IEEEACMAPAChicagoHarvardCSLMásolásNyomtatás
    2025-05-05 23:40