MTMT2: Hung Y.Y.. Nincs cím. (1988)

Hung, Y.Y. [szerk.]; Pryputniewicz, R.J. [szerk.]

Angol nyelvű Tudományos

Megjelent: SPIE 1988

Sorozatok: Proceedings of SPIE 0277-786X 1996-756X, 955

Azonosítók

MTMT: 32054439

Fejezetek

Khetan R.P. et al. Whole-field residual stress measurements in silicon wafers during integrated circuit fabrication. (1988) Megjelent: Nincs cím pp. 2-13

Hivatkozás stílusok: IEEE ACM APA Chicago Harvard CSLMásolásNyomtatás

2025-04-28 10:14